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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 射频模块77pin-1.5mm-45x50mm合金翻盖测试座

射频模块77pin测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
射频模块引脚：77pin
射频模块引脚间距：1.5mm
射频模块尺寸：45*50mm
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: BGA77pin-1.27mm-9X15mm合金翻盖探针测试座

BGA77pin电源芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
芯片封装形式：BGA
电源芯片引脚77pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：9*15mm
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: 邮票孔模块24PIN-1.1mm-12.2x16.0mm合金翻盖探针测试座

邮票孔模块24pin测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
模块引脚：24pin
模块引脚间距：1.1mm
模块尺寸：12.2*16mm
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: SOP24pin-0.64mm-3.9x6.0mm合金翻盖探针芯片测试座

SOP24pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.64mm
适配芯片尺寸：3.9*6.0mm
更多 +

: QFP52pin-0.65mm-10x10mm合金旋钮翻盖探针芯片测试座

QFP52pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFP
芯片引脚：52pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：10*10mm
更多 +

: LGA30pin-0.5mm-5x6mm塑胶翻盖芯片测试座

LGA30pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：30pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：5*6mm
更多 +

: BGA216pin-0.8mm-16x16mm合金旋钮翻盖芯片测试座

BGA216pin芯片测试治具规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：216pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：16*16mm
更多 +

: LCC20pin-2.54mm-21.7x21.7mm合金翻盖芯片探针测试座

LCC20pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：2.54mm
适配芯片尺寸：21.7*21.7mm
更多 +

: 蝶形管壳封装46pin-1.1mm-25x24合金翻盖芯片测试治具

蝶形管壳封装48pin芯片测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
封装形式；蝶形管壳
芯片引脚：46pin
芯片引脚间距：1.1mm
适配芯片尺寸：25*24mm
更多 +

: SOP20pin-0.5mm-5.1x4.9-014-KNH芯片老化测试夹具

SOP20pin芯片老化测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：（5.1*4.9mm）/（6.4*4.4mm）/（4.9*7.1mm）
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: QFN24pin-0.5mm-4x4mm翻盖旋钮芯片探针老化测试座

QFN24pin芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: BGA25pin-1.27mm-6.25x6.25mm塑胶翻盖电源芯片老化测试座

BGA25pin电源芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：25pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：6.25*6.25mm
更多 +

: QFN40pin-0.4mm-6x4mm塑胶翻盖芯片测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：6*4mm
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: LTM4644电源芯片BGA77pin-1.27mm-15x9mm塑胶翻盖老化测试座

LTM4644电源芯片BGA77pin老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
电源芯片封装形式：BGA
电源芯片引脚：77pin
电源芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：15*9mm
更多 +

: BGA144pin-1.27mm-15x15mm塑胶翻盖电源芯片老化测试座

BGA144pin电源芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
电源芯片封装形式：BGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配电源芯片尺寸：15*15mm
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: QFN20pin-0.65mm-5X5mm开尔文合金翻盖测试座

QFN20pin芯片开尔文测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：5*5mm
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: 开关电源芯片DFN4pin-5.5mm-014-KNL(8X3.8mm)老化测试座

开关电源芯片DFN4pin老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：4pin
芯片引脚间距：5.5mm
适配芯片尺寸：8*3.8mm
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: TO252-5L-1.27（本体5.5x6.5mm)翻盖探针老化座

TO252-5L探针老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：TO252
引脚：5pin
引脚间距：1.27mm
适配尺寸：5.5*6.5mm
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: DFN4pin-0.85mm-6.9x1.4mm翻盖晶振老化座

DFN4pin晶振老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：DFN
引脚数：4pin
引脚间距：0.85mm
适配尺寸：6.9*1.4mm
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: BGA436pin-0.65mm-15X15mm合金旋钮翻盖芯片测试座

BGA436pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：436pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：15*15mm
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