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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制DFN10烧录座老化夹具0.4mm间距测试座尺寸1.1×1.5mm

产品特点及性能参数：
采用翻盖式旋钮结构，下压平稳接触稳定；?
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；?
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；?
高精度的定位...
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: 定制陶瓷壳体CSOP8老化座2.54间距测试座夹具烧录编程治具

合金探针老化座：
1、工作温度：-55℃~155℃@5000h；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：铝合金；
3、探针镀覆：3μ" Au over 50-100μ" Ni（鍍金3μ",鎳底50~100μ"）；
4、单PIN额定电压&电流...
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: 定制SOP8-1.27合金旋钮双扣测试座（标准的小八脚）

产品名称：定制SOP8非标手自一体式探针测试socket
适配尺寸：适用封装SOP，8脚，间距1.27mm 本体宽3.9mm
产品介绍：手自一体的探针式结构，可用于自动机台的ATE测试
性能参数：频率1.5GHZ, 电流小于...
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: 定制QFN73-0.5-7×7×0.85翻盖探针测试座老化座烧录座夹具

产品特点及性能参数：
采用翻盖式旋钮结构，下压平稳接触稳定；?
高精度的定位槽，保IC定位精确；?
探针可更换，维修方便，成本低；?
KEEP工程绝缘材料制作；?
最小可做到跳距pitch=0.35mm...
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: 定制QFN16-0.5双扣旋钮手自一体式探针测试座夹具ATE socket

产品特点：采用双扣旋钮式结构，适用于人工手动操作以及自动化设备测试烧录。
接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
核心部件材质：peek陶瓷；
额定电流：1A；
操作压力：30g、PIN越多压力越大...
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: 定制BGA60-0.8（8×9mm)合金翻盖探针测试座flash读写烧录座

socket性能参数：
工作频率：1666MHZ；
工作温度：-55℃~155℃；
单PIN电流：1A；
接触阻抗：≤100mΩ
材质：PEEK、AL
接触材质：镀金探针
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: 定制QFN10pin一拖四翻盖式探针老化座夹具测试座socket（3.2×2.5)

测试座（夹具）特性
①结构：1拖4多工位翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN...
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: 定制QFN64-0.5（9.5×8）翻盖塑胶探针老化座

产品简介适配芯片尺寸：QFN64封装，间距0.5mm
老化座用途：对QFN64的芯片进行老化、测试、烧录
①结构：翻盖式；
②外壳材质：塑胶；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件...
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: 定制陶瓷封装SSOP20-0.65_5.5×6.6塑胶翻盖测试座

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: LGA14pin翻盖合金探针测试座

LGA14pin测试座规格
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：2.5×3mm
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: 定制DFN4-1.1_1.7×2.1翻盖塑胶探针测试座

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: 定制QFN88-0.4(10×10)翻盖合金探针测试座

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: 定制DFN14_0.52测试座

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: 定制DFN8-0.95_8×8合金翻盖探针铜块测试座

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: DFN8-0.5（1×2）合金翻盖探针测试座

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: QFN10-0.5_2×3合金下压探针测试座带板

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: LGA14pin封装芯片合金翻盖探针测试座

LGA14pin测试座规格
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：2.2mm
芯片尺寸：14×22mm
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: 定制QFN24-1.0_7×7翻盖合金探针测试座

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: 定制DFN6-0.5 2×2合金翻盖老化座

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: 定制邮票孔38PIN-1.27_18×25.5合金翻盖探针烧录座

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