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eMMC169探针金属盒转USB3.0母口测试座
eMMC153转USB3.0测试座
USB3.0接口,传输速度快,合金外壳,镀金探针,理论测试寿命长达十万次
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QFN16-0.4(3*3)翻盖弹片IC测试老化座
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QFN12-0.4(5*5)翻盖弹片芯片老化测试座
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QFN12-0.5(3*3)下压弹片芯片老化测试座
QFN12-0.5芯片老化座 下压qfn12测试座 NP506-012-033-C-G
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QFN48-0.5(7*7)翻盖弹片芯片测试座
●产品结构&电气性能稳定,使用操作简便。
●胶体使用PEI&PES耐高低温(-55℃~+170℃)。
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●此款测试座...
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DFN8-0.5(3*3)翻盖探针芯片测试座
WSON8烧录座DFN8-0.5间距3*3mm 翻盖探针测试座MLP8
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DFN8-1.27(5*5)翻盖探针芯片测试座
WSON烧录座DFN8-1.27间距5*5mm翻盖探针测试座MLP8
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QFN8-08(4*3)下压探针芯片老化测试座
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QFN8-0.5(2*2)下压探针芯片老化测试座
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LGA52-1.0下压弹片转DIP48芯片测试座
LGA52下压弹片转dip48测试座 LGA52烧录座转TSOP48
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深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN/QFP/LGA/SOP等IC的Burn-in Socket和Test Socket
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QFN52-0.4(7*7)翻盖弹片IC老化测试座
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