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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制SOP4pin-1.3mm-2.7x3.4mm合金翻盖探针测试座

SOP4pin芯片探针测试座规格参数：
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：4pin
芯片引脚间距：1.3mm
适配芯片尺寸：2.7*3.4mm
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: 定制DFN14pin-0.4mm-2X2mm合金翻盖探针测试座

DFN14pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：2*2mm
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: 定制LCC4(下7PIN）-0.8mm（2x1.45mm)合金翻盖探针测试座

LCC4pin（实际下针7pin）芯片测试座规格参数信息：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：4pin（实际下针7pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：2*1.45,mm
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: 定制SMD4pin-3.8mm-7.55x7.55mm合金翻盖探针测试座

SMD4pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：SMD
芯片引脚间距：3.8mm
适配芯片尺寸：7.55*7.55mm
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: 定制DFN34pin-0.95mm-18x18mm合金翻盖探针测试座

DFN34pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：34pin
芯片引脚间距：0.95mm
适配芯片尺寸：18*18mm
芯片厚度：0.5mm
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: 定制LCC10pin-0.65mm-3x3mm合金翻盖探针测试座

LCC10pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：3*3mm
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: 定制BGA218pin-0.5mm-9.15x9.15mm合金旋钮翻盖探针测试座

BGA218pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：218pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：9.15*9.15mm
芯片厚度：0.982mm
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: 定制DFN13pin-0.9mm-6x6mm合金翻盖探针测试座

DFN13pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：13pin
芯片引脚间距：0.9mm
适配芯片尺寸：6*6mm
更多 +

: 定制QFN20pin-0.5mm-3.5x3.5mm合金翻盖探针测试座

QFN20pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3.5*3.5mm
芯片厚度：0.75mm
更多 +

: 定制DDR96ball-0.8mm合金翻盖探针测试座

DDR96ball探针测试座（DDR夹球座子）规格参数：
封装形式：BGA96pin/DDR96ball
引脚：96pin,内存颗粒：96ball
引脚/内存颗粒间距：0.8mm
尺寸：13*7.5mm
制作方式：一件加工定制
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: 定制电感SMD2pin-5.25x2.16塑胶翻盖探针测试座

贴片电感SMD2pin测试座规格参数：
贴片电感SMD
引脚：2pin
引脚间距：5.25mm
适配尺寸：2.1*6mm
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: 定制LGA48(实际下针48+5）pin-1.27mm-16x23mm合金翻盖探针测试座

LGA48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：48pin，实际下针（48+5）53pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：16*23mm
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: 定制BGA72pin-1.0mm-12x12mm合金翻盖探针测试座

BGA72pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：72pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：12*12mm
更多 +

: 定制BGA331pin（实际下针188PIN）-0.65mm-13x13mm合金旋钮翻盖探针测试座

BGA331pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：331pin（实际下针188pin）
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：13*13mm
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: 定制QFP128pin-0.4mm-14x14mm合金旋钮翻盖探针测试座

QFP128pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：128pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片本体尺寸：14*14mm
含引脚尺寸：16*16mm
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: 定制LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座

LCC84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：29.21*29.21mm
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: 定制LCC48pin-0.5mm-8.5x8.5mm合金翻盖探针测试座

LCC48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：8.5*8.5mm
更多 +

: 定制QFN60pin-0.55mm-12x6.6mm合金翻盖探针测试座

QFN60pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：60pin
芯片引脚间距：0..55mm
适用芯片尺寸：12×6.6mm
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: 定制邮票孔模块40pin-1.0mm-12.2×13.2mm)合金翻盖探针测试座

邮票孔模块探针测试座规格参数：
模块引脚：40pin
模块引脚间距：1.0mm
模块尺寸：12.2*13.2mm
更多 +

: 定制WIFI蓝牙模块54pin-1.0mm-13×18mm合金翻盖探针测试座

WIFI蓝牙模块54pin探针测试座规格参数：
引脚：54pin
引脚间距：1.0mm
模块尺寸：13×18mm
管脚尺寸：0.8*06mm
更多 +

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