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: QFP64pin-0.5mm-10×10mm芯片翻盖弹片老化座

QFP芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：10*10mm
更多 +

: QFP48pin-0.5mm-7×7mm翻盖弹片老化座-QFP老炼座

QFP48pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：7*7mm
喊引脚尺寸：9*9mm
更多 +

: QFN48pin-1.0mm-16.7x16.7mm翻盖老化测试座

QFN48pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：16.7*16.7mm
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: 新款TO247-4pin老炼座-TO老化座

TO247器件老化测试座规格参数：
器件封装类型：TO247
引脚：4pin
引脚间距：5.44mm
测试座类型：下压式
适用场景：老化/测试/烧录
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: 新款QFN32pin-0.4mm-4X4mm芯片下压烧录座

QFN32pin芯片烧录座规格参数：
芯片封装：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚：0.4mm
适用芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: 定制邮票孔模块40pin-1.0mm-12.2×13.2mm)合金翻盖探针测试座

邮票孔模块探针测试座规格参数：
模块引脚：40pin
模块引脚间距：1.0mm
模块尺寸：12.2*13.2mm
更多 +

: 定制WIFI蓝牙模块54pin-1.0mm-13×18mm合金翻盖探针测试座

WIFI蓝牙模块54pin探针测试座规格参数：
引脚：54pin
引脚间距：1.0mm
模块尺寸：13×18mm
管脚尺寸：0.8*06mm
更多 +

: 定制CSOP24pin-0.65mm（含引脚13.2×7.8mm)翻盖探针老化座

CSOP24pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：陶瓷封装CSOP
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：含引脚尺寸：13.2*7.8mm
更多 +

: 定制QFN84pin-0.5mm-7×7mm合金翻盖测试座

QFN84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：7*7mm
芯片厚度：0.8mm
更多 +

: 定制QFP208pin-0.5mm-28×28mm合金旋钮双扣式探针测试座

QFP芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：208pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：28×28mm
含引脚尺寸：30×30mm
更多 +

: QFN56pin-0.5mm-8×8mm-ZIF625接口烧录座

QFN芯片测试座规格尺寸：
封装型号:QFN-56-0.5
引脚间距(mm): 0.5
脚位:56pin
适配芯片尺寸:8*8mm
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: 定制BGA81pin-0.5mm-5×5mm合金翻盖测试座

BGA芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：81pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：5×5mm
更多 +

: SOP34pin-0.65mm开尔文测试老化座

SOP芯片开尔文老化座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：34pin
芯片引脚间距：0.65mm
更多 +

: DFN8pin-2.0mm-8×8mm翻盖双层板烧录座

DFN8pin芯片双层板烧录座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：2.0mm
芯片尺寸：8×8mm
更多 +

: SOP28pin-1.27mm-TP01NT开尔文老化测试座

SOP芯片开尔文老化座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：28pin
芯片引脚间距：1.27mm
开尔文测试方式
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: 定制QFN24pin-0.5mm（3.5×5.5mm）翻盖探针老化座

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：3.5×5.5mm
更多 +

: QFN68pin-0.35mm-7*7mm芯片下压老化测试座

QFN68pin芯片下压老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：68pin
芯片引脚间距：0.35mm
芯片尺寸：7*7mm
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: AEC-Q系列车规级功率器件TO247封装3pin老化测试座

车规级功率器件老化座规格参数：
适配IC封装:TO247
pin脚数：3pin
引脚中心距：5.44mm
更多 +

: 定制DFN54pin-0.45mm-5x6mm塑胶翻盖探针测试座

DFN芯片测试座规格参数：
芯片封装：DFN
芯片引脚：54pin
芯片引脚间距：0.45mm
芯片尺寸：5*6mm
更多 +

: 定制LGA144pin-1.27mm-（15x15mm）合金旋钮探针老化测试座

LGA芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：15×15mm
厚度：2.82mm
更多 +

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