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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 模块64+12pin-1.0mm-23.73x23.73mm合金旋钮翻盖测试座

模块64+12pin测试座规格参数：
生产品牌：HMILU
模块引脚：64+12pin
模块引脚间距：1.0mm
适配模块尺寸：23.73*23.73mm
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: 功率元器件TO252-5pin-1.143mm-本体6.095mm开尔文合金翻盖测试座

功率器件TO252-5L测试座规格参数：
生产品牌：HMILU
封装类型：TO252
器件引脚：5L
引脚间距：2.286mm
含引脚尺寸：9.9mm
器件本体尺寸：6.095
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: 邮票孔模块109pin-1.1mm-17.7x15.8mm合金旋钮探针测试座

邮票孔模块109pin测试座socket规格参数：
生产品牌：HMILU
模块引脚：109pin
模块引脚间距：1.1mm
适配邮票孔模块尺寸：17.7*15.8mm
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: BGA169pin-0.5mm-7x7mm合金旋钮探针芯片测试座

BGA169pin芯片测试座规格参数：
生产品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：169pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm
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: BGA232pin-0.5mm-10.0x9.0mm合金旋钮翻盖芯片测试座

BGA232pin芯片测试座规格参数：
生产厂家品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：232pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：10*9mm
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: ESOP8pin-1.27mm-4.6x6mm翻盖探针芯片老化座

ESOP8pin芯片老化测试夹具规格参数：
生产厂家品牌：HMILU
芯片封装形式：ESOP
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：4.6*6mm
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: QFN56pin-0.4mm-7x7mm合金翻盖芯片探针测试座

QFN56pin芯片测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：56pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: QFP64pin-0.5mm12x12mm芯片探针老化座

QFP64pin芯片老化测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFP/OTQ
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：12*12mm
更多 +

: QFN48pin-0.5mm-7x7mm翻盖探针芯片老化座

QFN48pin芯片老炼夹具规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: LGA236pin（下28针）-0.35mm-5.28x5.93mm塑胶翻盖芯片烧录座

LGA236pin芯片烧录座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：236pin（实际下针28pin）
芯片引脚间距：0.35mm
适配芯片尺寸：5.28*5.93mm
更多 +

: QFN60pin-0.5mm翻盖芯片测试治具

QFN60pin芯片测试治具规格参数信息：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：60pin
芯片引脚间距：0.5mm
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: 感光器件4pin-1.1mm-3×0.9mm合金翻盖测试座

4pin感光器件测试座规格参数信息：
品牌：HMILU
器件引脚：4pin
器件引脚间距：1.1mm
器件尺寸：3*0.9mm
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: WLCSP21pin-0.5mm-3.022×3.290mm塑胶翻盖探针芯片测试座

WLCSP21pin芯片测试座规格参数信息：
品牌：HMILU
芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：21pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3.022*3.290mm
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: WLCSP15pin-0.5mm-3.002×1.919mm塑胶翻盖探针芯片测试座

WLCSP15pin芯片测试座规格参数信息：
品牌：HMILU
芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚15pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3.002*1.919mm
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: WLCSP24pin-0.4mm-2.634×1.819±0.03mm塑胶翻盖芯片探针测试座

WLCSP24pin芯片测试座规格参数信息：
品牌：HMILU
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：2.634*1.1819±0.03mm
芯片厚度：0.511mm
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: WLCSP12pin-0.5mm-2.496×3.010mm塑胶翻盖芯片探针测试座

WLCSP12pin芯片测试座规格参数信息：
品牌：HMILU
芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：12pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2.496×3.010mmmm
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: BGA100pin-0.5mm-5.5×5.5mm芯片测试座

BGA100pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：5.5*5.5mm
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: QFN32pin-0.5mm-5×5mm翻盖式晶振测试座

QFN32pin晶振测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：QFN
引脚：32pin
引脚间距：0.5mm
适配尺寸：5*5mm
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: QFN8pin-1.27mm-5x5x1.7mm合金翻盖芯片测试夹具

QFN8pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
适用芯片封装形式：QFN8/16-DFN8/16
支持芯片引脚：8pin/16pin
支持芯片引脚间距：1.0mm/1.27mm
适配芯片尺寸：6*6*1mm/5*5*1.7mm
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: DFN10pin-0.4mm-1.8x2.1mm塑胶翻盖探针芯片老化座

DFN10pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：1.8*2.1mm
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