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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: PCB集成模块54PIN合金翻盖探针测试座

PCB集成模块测试要求：
射频信号：2G
插损：<1dB
回损：<-10dB
电流：1A以内
测试温度：常温
PCB集成模块测试座材料：合金
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: LGA14pin封装芯片合金翻盖探针测试座

LGA14pin测试座规格
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：2.2mm
芯片尺寸：14×22mm
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: SMD-0.2（8×5.4）翻盖开尔文光座（011-0020-081）-YYS

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: 定制BGA100-1.6_18×18合金翻盖旋钮探针测试座

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: 定制QFN24-1.0_7×7翻盖合金探针测试座

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: 定制BGA144-1.27_15×15×5.05爪型探针合金翻盖旋钮老化座

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: 定制BGA77-1.27_15×9×5.05爪型探针合金翻盖老化座

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: 传感器芯片14pin-1.26_11.37×6.377翻盖合金探针测试座

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: 定制LGA37-1.4（12×17mm)合金翻盖探针测试座

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: 定制2pin-2.4_3.2×1.6一拖九工位ATE探针电容测试座

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: 定制BGA238-0.5_10×10旋钮翻盖合金探针测试座

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: 定制BGA456-1.0_21×21合金翻盖旋钮显卡芯片测试治具

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: 定制BGA144-1.27（16×16）合金翻盖探针测试座

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: 定制元器件开关7pin（实际下针4pin ）-1.1_6.6×5.5合金翻盖测试座

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: 定制BGA69-1.27（9×15mm)合金翻盖探针测试座

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: 定制DFN6-0.5 2×2合金翻盖老化座

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: 定制邮票孔38PIN-1.27_18×25.5合金翻盖探针烧录座

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: 定制DFN20-0.5_3.5×4.5合金翻盖老化座

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: 定制QFN32-0.89_8.84×8.84翻盖式合金探针老化座

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: GDDR5测试座带转接板

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