- [鸿怡动态]应用于SIM卡密钥芯片的老化测试解决方案2019年07月04日 17:20
- 随着市面上电子产品的更新换代，小型封装的芯片越来越受欢迎。其中，尤数QFN系列的封装最为广泛。电源管理芯片同，SIM卡密钥芯片、MEMS传感器等等产品都可见到它的身影。时，对于小型封装芯片的老化、以及性能测试，也是芯片设计公司以及封测厂的重中之重。 针对QFN8系列芯片的老化，测试，鸿怡电子研发设计出一系列完整的解决方案，老板板加上测试socket的方式。很好的帮客户解决以上问题。
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- [鸿怡动态]大电流微针模组在电池PACK线自动化装置的应用2019年06月25日 15:32
- 大电流微针模组，顾名思义，可过更大电流的微针测试模组，一般应用于电池/电源类产品的测试。 我们都知道，电池的PACK自动化生产线工艺包括从电芯的分选配组、自动焊接、半成品组装、老化测试、PACK检测、PACK包装等等，最后组成的电池模组。 简单来说，电池模组则是由众多的电芯，通过pack装配线严格筛选，将一致性好的电芯按照精密设计组装成为的模块化的电池模组，并加装单体电池监控与管理装置。 其中最重要一关就是电池下线测试，锂电池测试下线前对模组全性能检查，包括模组电压/电阻、电
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- [鸿怡动态]为满足客户生产需求，鸿怡电子新引进大型CNC加工设备2019年06月12日 18:31
- 鸿怡电子专注半导体、超微精密产品的测试、老化解决方案19掉，不忘初为，为中国“智”造赋能。 感谢长久以来，各新老客户的支持和帮助。鸿怡电子经过长久的发展，也日渐壮大。为满足持续增长的生产订单，鸿怡电子于本月新进口大型CNC加工机床.以便为客户提供更好的IC测试座产品。定制IC测试治具的订单由原有的10-12个工作日，缩短到5-7个工作日。大大满足客户的需求。
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- [行业资讯]SK海力士宣布将停产36层和48层3D NAND2019年05月07日 17:31
- SK海力士对外宣布将停止生产成本相对高的3D NAND初期产品－2代（36层）、3代（48层），并提高72层的生产比重。下半年则计划利用96层4D NAND产品刺激SSD、移动市场。青州新M15工厂考量目前的需求量，量产速度将比原计划慢，预计SK海力士今年的NAND晶圆投入量会比去年减少10％以上。 SK海力士对此表示，在存储器需求不确定、期待需求恢复的市场中，将集中精力在降低成本和确保品质。 未来针对DRAM领域，SK海力士将着重转换细微工程。首先将逐渐扩大第一代10纳米
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- [鸿怡动态]什么是烧录座？2019年04月09日 15:02
- 深圳市鸿怡电子有限公司自2001年开始生产销售各类的IC测试座、IC老化座和IC烧录座。经常会遇到一些不同客户有关烧录座上的一些问题. 今天跟大家一起共同探讨有关烧录的相关事宜。首先讲一下，什么是烧录？烧录就是程序员写好的程序，把程序导入到目标IC上面，实现一个完整的动作。 烧录的过程我们也叫做编程，也有地方叫做 ic copy。当然，我们更习惯称之为烧录。 烧录座我们也叫编程座。配合烧录座工作的机器我们称之为烧录器，因为台湾的半导体产业发展的早，到大陆后，客户之所以叫它为
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- [行业资讯]SSD主控芯片CP测试你真的知道么？2019年03月27日 16:49
- 在芯片测试领域，主要分为两部分测试，业界通俗的叫法是CP和FT，我们今天主要谈谈CP的问题。什么是CP测试？CP是（ChipProbe）是缩写，指的是芯片在foundry流片回来后，需要在wafer level 进行简单的DC和功能测试，主要是通过探针卡的探针扎到芯片PAD上，然后通过ATE输入激励信号，测试芯片的输出响应。 CP测试的工具如下： 大多数情况下，特别是在国内，我们目前在CP测试上选用的探针都还是悬臂针(也有叫环氧针的，因为针是用环氧树脂固定的缘故)。这种
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- [行业资讯]Flash芯片的分类2019年03月19日 18:28
- Flash又分NAND Flash和NOR Flash，NOR型存储内容以编码为主，其功能多与运算相关；NAND型主要功能是存储资料，如数码相机中所用的记忆卡。 现在大部分的SSD都是用来存储不易丢失的资料，所以SSD存储单元会选择NAND Flash芯片。这里我们讲的就是SSD中的NAND Flash芯片。针对flash芯片的测试，鸿怡电子可以提供完整的flash芯片测试治具及其解决方案。 （1）Nor Flash：主要用来执行片上程序 优点：具有很好的读写性能和随机访问性
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- [鸿怡动态]关于BGA芯片级封装的老化测试座2019年02月20日 14:46
- 老化炉工作于各种不同的温度下，典型的最大老化温度为150摄氏度，IC老化座的寿命需要满足在高温下的总时间可能超过1000小时。由于老化期间加载了接触件，弹性元件经过了应力松弛。其中一种最佳弹性合金为CDA-172000，它是一种铍青铜合金。这种材料由于其兼具有可成型性、模量大、屈服强度高和应力松驰性能好，已经广泛用于IC老化插座。 一种冲压成型的接触件(我们称之为弹片）由铍青铜制成，用于0.75 mm节距的插座示于图5。这是一种具备现代工艺水平的金属成型的零件，片状材料的厚度
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- [行业资讯]主控芯片AS2258支持最新製程3D NAND2019年02月19日 16:06
- 随着大数据需求爆发，电子产品的发展与技术进步，影片、小视频、音乐、照片等各种形式的数据量持续爆增，持续推动数据存储市场需求不断增长。 SSD所具备大容量、高稳定、高速度、低功耗等优势，为消费者带来更加流畅的用户体验，并推动SSD市场规模不断增长，2018年全球SSD市场规模已超过2亿台，未来将持续扩大在市场上的应用。 SSD大容量的关键在于NAND Flash技术的发展。随着原厂技术的进步，3D NAND制程良率与产能不断提升，现已全面进入3D NAND时代 2019年将逐步
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- [行业资讯]怎么判断您的IC是否被烧录过？2019年01月18日 17:21
- 相信很多电子行业的朋友经常会和IC烧录打交道，特别是一些做贸易的公司可能最怕遇到芯片上面被做过标记，因为这就意味着这些芯片被烧录过了。 那么，怎么判别IC是否烧录过呢？ IC是否烧录过，首先要去从内部结构来看的话，通过烧录器检查IC是否有被烧录过。 第一，通过空白检查，如果烧录过的IC，客户没有清除过，它里边还会残留一些资料，这个时候就可以看出IC是否有被烧录过。 第二，通过外观检测，IC是否有焊过锡，客户有时候会做一些标记点，就是打一些颜色标识，从外观上去辨别IC是否有被烧
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- [鸿怡动态]烧录BGA芯片时，烧录座的选型技巧？2019年01月11日 10:09
- 当前，eMMC芯片以其速度快、接口简单、标准化和无需坏块管理等特点，广泛运用于手机、平板电脑、智能电视、机顶盒等电子产品当中。eMMC烧录也是一个需要考虑的问题，让烧录稳定，首先要让硬件连接稳定可靠，怎样选择eMMC烧录座是首先要考虑的。 如果您接触过烧录器，那么不会烧录座感到陌生。但是，如何选择一个合适的烧录座呢？烧录座型号繁多，即使是BGA153的烧录座，也有几个不同的型号。也许您会问该怎么办？那下面让我们探讨一下如何选择烧录座。 1、什么是烧录座 烧录
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- [行业资讯]晶振的频率是由什么来决定的呢?2019年01月10日 18:26
- 我们都知道晶振是一种提供频率的元器件，很多人不懂其原理，不知道晶振为什么能提供频率，以及一个晶振元件提供的频率是由什么决定的。鸿怡电子今天就来介绍一下。晶振的振动就像弹簧;晶体的振动频率和石英晶体的面积、厚度、切割取向等有关。越长的抖得越慢、越粗的抖得越慢、越软的抖得越慢，不过太短太细太硬的抖不起来。晶振是机械振动，具有机械振动的特征：形状、几何尺寸、质量等，决定振动频率。 晶振普遍由石英材质或者陶瓷材质加上内部的晶片组合而成，而晶振的频率大小取决于晶片的厚度影响。首先，在制
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- [鸿怡动态]鸿怡电子针对有源晶振编程的晶振测试座2019年01月03日 16:02
- 什么是可编程晶振呢？可编程晶振有什么好处？今天，鸿怡电子小编就为大家介绍有关于可编程晶振以及晶振编程使用的晶振编程座。 可编程晶振就是可以满足任何频点的晶体振荡器，经过频率发生器的放大或缩小后实现各种不同的总线频率。 可编程晶振简单的解释就是，把你需要的晶振频率，精度，电压，负载等要求提供过来，在通过简单的电脑编辑器，把你需要的这些参数在电脑控制器上，输入你所提供的参数，就可以把频率，电压等参数写入到空白的晶振片上。原理跟IC编程一个道理，只不过IC编程有分为电脑编辑以及手工
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- [鸿怡动态]为什么芯片在出厂前需要做加速老化试验？2018年12月29日 15:14
- 最近，遇到挺多客户，咨询用于做加速老化试验的芯片老化座..今天，鸿怡电子就为大家介绍一下，芯片为什么需要做加速老化试验？ 随着芯片打入汽车、云计算和工业物联网等市场，芯片的可靠性渐渐成为开发者关注的重要问题。事实也证明，随着时间的推移，芯片想要达到目标的功能将会变得越来越难以实现。 在过去，芯片的可靠性一般被归结为代工问题。那些专为电脑和手机设计的芯片可以在高性能下正常使用平均两到四年，两到四年后，芯片功能开始下降，用户升级到产品的下个版本，后者具有更多功能、更好的性能以及更
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- [行业资讯]ePOP NAND flash测试socket即将来临2018年12月03日 17:46
- 鸿怡电子适用于ePOP芯片的IC老化座、测试socket即将来临。智能手表等智能可穿戴设备由于空间狭小，对组件的面积和高度有着严格的限制。 ePOP内存芯片的出现无疑是雪中送炭。ePoP 是一款高度集成的 JEDEC 标准组件，在一个小巧的封装内整合了 eMMC 和 LPDRAM。ePoP 直接安装到兼容主机 CPU 的上部，这可以有效节省电路板空间，并确保最佳性能，得益于内存邻近主机 CPU。它非常适合可穿戴设备等空间非常受限的系统。 中国著名的嵌入式存储器供应商Weiwe
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- [行业资讯]慧荣SM2262EN SSD主控支持96层3D NAND2018年11月08日 14:49
- 伴随着大数据以及云时代的来临，人们对于各种数据的应用需求也日渐增高，无处不在的智能设备与无处不在的海量数据存储持续上升。前不久在深圳举办的 “闪存市场峰会〞上，慧荣科技展示出全系列PCIe NVMe SSD控制芯片解决方案。 其中，有专为企业及数据中心应用所设计的SM2270双模控制芯片方案，提供高性能、大容量、高可靠性和低延迟设计，并支持Open-Channel的应用，同时也可搭载Turnkey固件以支持标准NVMe协议；此外，还展出针对消费级SSD所设计的高效
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- [鸿怡动态]用于SSD固态硬盘芯片的开卡测试方案板2018年11月05日 17:43
- 为大家介绍几款用于ssd固态硬盘/U盘板芯片开卡量产测试的方案板和flash ic测试座 SSD NAND闪存SM2256K主控测试解决方案适用于BGA152 132 100 88 LGA60 TSOP48 96闪存4合1多个PCB板该测试板采用SM2256K主控，可支持BGA152 / 132/100/88 / LGA60，TSOP84与DIP48（4CE测试）和DIP96（8CE测试）等多个封装闪存芯片测试，测试座可自由互换。a）为了测试TSOP48封装的闪存，我们可以同
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- [鸿怡动态]鸿怡电子-国内高品质的IC测试座生产定制厂家2018年10月25日 15:43
- 现阶段的中国IC产业崛起速度如雨后春笋，相关配套产业链也逐步变得强大和完善。 拿一个在IC产业链上微小但又不可缺少的环节——IC测试socket举例，Socket是IC测试时经常要用到的治具，主要功能是实现IC引脚和测试PCB或者loadboard的电气性能连接。 在IC设计、封测、制造行业内的人都知道，原来的IC测试socket领域基本被美国的TI、WELLS和日本的yamaichi、3M、ENPLAS等企业垄断，价格高昂，拿非常普通的flash芯片
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- [行业资讯]什么是HAST（ 加速老化测试）?2018年10月23日 11:26
- 加速老化测试的定义和测试标准HAST高度加速的温度和湿度压力测试（HAST）是一个高度加速，以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。环境参数， HAST也称为压力测试（PCT）或不饱和压力试验（USPCT）。其目的是评估测试样本，通过将试验室中的水蒸汽压力增加到一定的耐湿性。比试样内部的部分水蒸汽压力高得多。这个过程暂时加速水分渗入样品中。HAST测试标准 HAST是加速防潮测试的更加加速版本,与高温/高湿度测试（85C / 85％RH）相比，HAST会产生更多成分，接触
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- [鸿怡动态]老化测试座在为移动电源进行测试时的步骤有哪些？2018年10月18日 18:15
- IC老化测试座在为移动电源进行测试时的步骤有哪些？下面小编为您讲解： 1、过充保护：过充电检测电压、过充电检测延迟时间、过充电解除电压。2、过放保护：过放电检测电压、过放电检测延迟时间、过放电解除电压。3、过流保护：充电过电流保护电流、充电过流检测延迟时间、充电过流解除延迟时间、放电过电流保护电流、放电过流检测延迟时间、放电过流解除延迟时间。4、短路保护：保护条件、外部电路短路、检测延迟时间、保护解除延迟时间。 5、温度保护：温度保护条件。5、温度保护：保护解除条件。6、内阻
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