全站搜索 - 芯片测试座 - 鸿怡电子官网

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：芯片测试座

: 定制BGA169pin-0.5mm-7x7mm芯片合金旋钮翻盖测试座

BGA169pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：169pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: 定制QFN24pin-0.5mm-4x4mm合金顶窗下压测试座

QFN24pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: 定制BGA484pin-0.8mm-18x18mm合金翻盖探针测试座

BGA484pin大阵例芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：484pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：18*18mm
更多 +

: 定制LCC24pin-1.27mm-10x10mm合金翻盖探针测试座

LCC24pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：10*10mm
更多 +

: 定制DFN13pin-0.4mm-3x3mm芯片合金翻盖探针测试座

DFN13pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：13pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：3*3mm
更多 +

: 定制BGA100pin-0.8mm-10x10mm合金翻盖探针测试座

BGA100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：10*10mm
更多 +

: 定制QFN64pin-0.5mm-10x10mm合金双扣旋钮手自一体探针测试座

QFN64pin芯片手自一体测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：10*10mm
适配芯片厚度：1mm
适用芯片ATE自动化测试、手动测试
更多 +

: 定制LGA220pin-1.0mm-16.8x20mm芯片测试治具

LGA芯片220pin芯片测试治具规格参数：
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：220pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：16.8*20mm
更多 +

: 定制DFN8pin-0.5mm-2x2mm芯片合金翻盖无磁测试座

DFN8pin芯片无磁测试座规格参数：
适用芯片封装形式：DFN/USON/QFN/WSON
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: 定制QFN20pin-0.5mm-4x4mm芯片测试治具

QFN20pin芯片测试治具规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: 定制BGA8pin-0.5mm-2x2mm芯片塑胶翻盖测试座

BGA8pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: USON8/DFN8pin-0.5mm-2X3mm军工级耐高低温芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：USON8/DFN8/QFN8/LGA8/WSON8
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*3mm
更多 +

: 定制LGA80pin-2.0mm-20x20mm塑胶翻盖测试座

LGA80pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：80pin
芯片引脚间距：2.0mm
适配芯片尺寸：20*20mm
更多 +

: 定制SOP18pin-1.4mm-9.4x19.4mm合金翻盖芯片测试座

SOP18pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：18pin
芯片引脚间距：1.4mm
适配芯片尺寸：9.4*19.4mm
更多 +

: 定制SOP4pin-1.3mm-2.7x3.4mm合金翻盖探针测试座

SOP4pin芯片探针测试座规格参数：
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：4pin
芯片引脚间距：1.3mm
适配芯片尺寸：2.7*3.4mm
更多 +

: 定制BGA256pin-1.27mm-21x21mm合金旋钮探针老化座

BGA256pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：256pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：21*21mm
更多 +

: 定制DFN14pin-0.4mm-2X2mm合金翻盖探针测试座

DFN14pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: 定制CQFN21pin-0.6mm-7.5x7.5mm翻盖探针老化测试座

CQFN21pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：CQFN
芯片引脚：21pin
芯片引脚间距：0.6mm
适配芯片尺寸：7.5*7.5mm
更多 +

: 定制LCC4(下7PIN）-0.8mm（2x1.45mm)合金翻盖探针测试座

LCC4pin（实际下针7pin）芯片测试座规格参数信息：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：4pin（实际下针7pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：2*1.45,mm
更多 +

: 定制SMD4pin-3.8mm-7.55x7.55mm合金翻盖探针测试座

SMD4pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：SMD
芯片引脚间距：3.8mm
适配芯片尺寸：7.55*7.55mm
更多 +

首页上一页 <... 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 ...> 下一页尾页

相关搜索

热点聚焦

鸿怡电子测试座的应用介绍: 测试座就是一种具有测试...

探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...: BGA测试座具有哪些特点？...

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



