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» 搜索:芯片测试座
定制QFN32pin-0.5mm-5x5mm芯片下压合金探针测试座
QFN芯片探针测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.5mm
适用芯片尺寸:5*5mm
更多 +
QFP48pin-0.5mm-7×7mm芯片下压弹片老化测试夹具
QFP芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.5mm
适用芯片尺寸:7*7mm
更多 +
QFP80pin-0.5mm-12*12mm芯片下压弹片老化座
QFP芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:80pin
芯片引脚间距:0.5mm
适用芯片尺寸:12*12mm
更多 +
QFP64pin-0.5mm-10×10mm芯片翻盖弹片老化座
QFP芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:0.5mm
适用芯片尺寸:10*10mm
更多 +
QFP48pin-0.5mm-7×7mm翻盖弹片老化座-QFP老炼座
QFP48pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.5mm
适用芯片尺寸:7*7mm
喊引脚尺寸:9*9mm
更多 +
QFN48pin-1.0mm-16.7x16.7mm翻盖老化测试座
QFN48pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:16.7*16.7mm
更多 +
新款QFN32pin-0.4mm-4X4mm芯片下压烧录座
QFN32pin芯片烧录座规格参数:
芯片封装:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚:0.4mm
适用芯片尺寸:4*4mm
更多 +
定制CSOP24pin-0.65mm(含引脚13.2×7.8mm)翻盖探针老化座
CSOP24pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:陶瓷封装CSOP
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.65mm
适用芯片尺寸:含引脚尺寸:13.2*7.8mm
更多 +
定制QFN84pin-0.5mm-7×7mm合金翻盖测试座
QFN84pin
芯片测试座
规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:84pin
芯片引脚间距:0.5mm
适用芯片尺寸:7*7mm
芯片厚度:0.8mm
更多 +
定制QFP208pin-0.5mm-28×28mm合金旋钮双扣式探针测试座
QFP
芯片测试座
规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:208pin
芯片引脚间距:0.5mm
适用芯片尺寸:28×28mm
含引脚尺寸:30×30mm
更多 +
定制DFN4pin-1.05mm-0.65×0.45mm电容老化测试座
DFN封装电容老化测试座规格参数:
封装类型:DFN
引脚:4pin
引脚间距:1.05mm
适用尺寸:0.65×0.45mm
更多 +
QFN56pin-0.5mm-8×8mm-ZIF625接口烧录座
QFN
芯片测试座
规格尺寸:
封装型号:QFN-56-0.5
引脚间距(mm): 0.5
脚位:56pin
适配芯片尺寸:8*8mm
更多 +
定制BGA81pin-0.5mm-5×5mm合金翻盖测试座
BGA
芯片测试座
规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:81pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:5×5mm
更多 +
SOP34pin-0.65mm开尔文测试老化座
SOP芯片开尔文老化座规格参数:
芯片封装类型:SOP
芯片引脚:34pin
芯片引脚间距:0.65mm
更多 +
DFN8pin-2.0mm-8×8mm翻盖双层板烧录座
DFN8pin芯片双层板烧录座规格参数:
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:2.0mm
芯片尺寸:8×8mm
更多 +
SOP28pin-1.27mm-TP01NT开尔文老化测试座
SOP芯片开尔文老化座规格参数:
芯片封装类型:SOP
芯片引脚:28pin
芯片引脚间距:1.27mm
开尔文测试方式
更多 +
定制QFN24pin-0.5mm(3.5×5.5mm)翻盖探针老化座
QFN芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:3.5×5.5mm
更多 +
QFN68pin-0.35mm-7*7mm芯片下压老化测试座
QFN68pin芯片下压老化座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:68pin
芯片引脚间距:0.35mm
芯片尺寸:7*7mm
更多 +
定制DFN54pin-0.45mm-5x6mm塑胶翻盖探针测试座
DFN
芯片测试座
规格参数:
芯片封装:DFN
芯片引脚:54pin
芯片引脚间距:0.45mm
芯片尺寸:5*6mm
更多 +
定制LGA144pin-1.27mm-(15x15mm)合金旋钮探针老化测试座
LGA芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:144pin
芯片引脚间距:1.27mm
芯片尺寸:15×15mm
厚度:2.82mm
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