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: emcp162/186翻盖金属探针转USB3.0接口芯片测试座

eMCP162探针金属盒转USB3.0母口测试座 eMCP162/186转USB3.0测试座 USB3.0接口，传输速度快，合金外壳，镀金探针，理论测试寿命长达十万次
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: emmc153/169翻盖金属探针转USB3.0接口芯片测试座

eMMC169探针金属盒转USB3.0母口测试座
eMMC153转USB3.0测试座
USB3.0接口，传输速度快，合金外壳，镀金探针，理论测试寿命长达十万次
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: APtina摄像头模组测试治具

※ 采用手动翻盖式结构，操作方便； ※ 上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
※ 高精度的定位...
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QFN48-0.5（7*7）翻盖弹片芯片测试座

●产品结构&amp;电气性能稳定，使用操作简便。
●胶体使用PEI&PES耐高低温（-55℃～+170℃）。
●金属导体使用日本NGK铍铜，耐疲劳及高低温（-50℃～+900℃）和优良的导电性。
●此款测试座...
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DFN8-0.5(3*3)翻盖探针芯片测试座

WSON8烧录座DFN8-0.5间距3*3mm 翻盖探针测试座MLP8编程座
工厂直销欢迎批发质优价廉！性能稳定！寿命长！
翻盖探针测试座，体积小,WSON\QFN\DFN8-0.5ANDK自有品牌，最快一天交货！
【0.5间距/带板...
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DFN8-1.27(5*5)翻盖探针芯片测试座

WSON烧录座DFN8-1.27间距5*5mm翻盖探针测试座MLP8编程座厂家直销
工厂直销店铺欢迎批发封装种类齐全，品质保证性价比高！
翻盖探针测试座，体积小，WSON\QFN\DFN8（5*5）-1.27ANDK自有品牌，最快一天交...
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QFN8-08(4*3)下压探针芯片老化测试座

DFN8测试座WSON8-0.8转接座QFN84*3mm下压探针老化座
鸿怡工厂直销欢迎批发型号齐全，实惠天下！性价比高！
下压探针测试座，寿命长 DFN8-0.8 ANDK自有品牌，大量现货当天发！
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QFN8-0.5(2*2)下压探针芯片老化测试座

DFN8测试座WSON8-0.5转接座QFN8 2*2mm下压探针老化座
工厂直销店铺欢迎批发型号齐全，质优价廉！性价比高！
下压探针测试座，寿命长、可耐高温 DFN8-0.5
ANDK自有品牌，大量现货当天发！
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BGA63翻盖探针转dip48芯片测试座

BGA63翻盖探针转DIP48测试座
BGA63 socket 翻盖式bga转48工厂直销
间距0.8mm 常见尺寸9*11;10.5*13.5
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QFN40-0.5下压弹片芯片测试座

QFN40-0.5芯片测试座镀金插针编程座下压老化座QFN40烧录座工厂
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！翻盖弹片老化座
QFN40-0.4 HMILU自有品牌，大量现货当天发！【0.5间距/不带板...
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LGA52-1.0下压弹片转DIP48芯片测试座

LGA52下压弹片转dip48测试座 LGA52烧录座转TSOP48编程座测试架
探针可更换可维修，寿命长，兼容12*17mm和14*18mm 两种尺寸
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BGA64-1.0翻盖弹片IC老化测试座

深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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BGA272-0.8翻盖双面弹芯片老化座测试座

深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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LGA52翻盖探针转dip48芯片测试编程座

深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN/QFP/LGA/SOP等IC的Burn-in Socket和Test Socket
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BGA100翻盖弹片转DIP48测试座 flash芯片测试座

深圳鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN/QFP、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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EMMC153/169翻盖安卓手机数据恢复测试盒

安卓手机数据恢复测试盒
EMMC 153/169 NADA FLASH芯片测试盒
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SOP38-0.5下压弹片芯片老化测试座

SSOP38 芯片测试座 ots38-0.5-02 弹跳镀金双触点 IC老化座厂家
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！下压弹片老化座，sop38（38）-0.5大量现货当天发！【0.5间距/空座不带转接板】
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QFN52-0.4(7*7)翻盖弹片IC老化测试座

QFN52-0.4 老化座芯片测试座编程座 0.4间距工厂现货
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！翻盖弹片老化座，QFN52-0.4 老化座大量现货当天发！【0.4间距/不带板】
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BGA144-0.8下压弹片老化测试座国芯GX3011B 测试座

国芯GX3011B 测试座老化座烧录座 BGA144 IC插座 0.8间距深圳市鸿怡电子有限公司为国芯GX3011B这款芯片（BGA144 10*10mm pitch：0.8mm）专门定制的一款可以上自动机台的下压弹片测试座！性能稳定，寿命长，性价比...
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SM2258H转BGA152/132一拖四双面弹测试夹具

SSD闪存测试夹具，SM2258H主控，BGA152/132一拖四测试治具。一块测试板+四个BGA152测试座。（测试板已焊接好端子板测试座可随意插拔互换）
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