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DFN8-1.27(5*5)翻盖探针
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QFN8-08(4*3)下压探针芯片老化测试座
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QFN8-0.5(2*2)下压探针芯片老化测试座
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BGA63翻盖探针转dip48
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BGA63翻盖探针转DIP48测试座
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间距0.8mm 常见尺寸9*11;10.5*13.5
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QFN40-0.5下压弹片
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SOP24-1.27下压弹片老化座 300mil
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【本款老化座适配IC规格:SOP封装、24脚、引脚间距1.27mm、芯片本体(不含引脚)宽度7.5mm(300mil)】
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LGA52-1.0下压弹片转DIP48
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LGA52下压弹片转dip48测试座 LGA52烧录座转TSOP48编程座 测试架
探针可更换可维修,寿命长,兼容12*17mm和14*18mm 两种尺寸
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BGA64-1.0翻盖弹片IC老化测试座
深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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BGA272-0.8翻盖双面弹芯片老化座测试座
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eMMC153/169 EMCP162/186eMCP221翻盖探针三合一转SD测试座
※ 采用标准SD接口模式,通过读卡器与电脑连接或通过编程器SD接口连接实现测试或烧录等相应操作;
※ 兼容有球无球测试,IC限位框采用模具一体成型,可根据IC选择不同大小限位框进行更换,实现不同;
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LGA52翻盖探针转dip48
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eMMC153/169 eMCP162/186/221/529测试座 UFI东海 魔客字库编程座
本套产品提供SD接口、东海HDMI接口、UFI接口、easy-JTAG接口,兼容市面上多款编程器,可适配东海、MOORC魔客E-MATE BOX、UFI BOX、easy-JTAG等盒...
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