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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化测试座（带顶针）

QFN16pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3*3mm
更多 +

: 定制LGA32pin-1.0mm-19x12mm一拖20工位合金旋钮双扣测试座

LGA32pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：19*12mm
双扣式手自一体测试座
更多 +

: QFN40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖老化测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm
更多 +

: DFN6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座

DFN6pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: 定制BGA100pin-1.0mm-11x11mm塑胶翻盖测试座

BGA100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：11*11mm
更多 +

: 定制LGA193pin-1.0mm-23x23mm摄像传感芯片测试座

LGA193pin摄像传感芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：193pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：23*23mm
更多 +

: 定制QFN32pin-0.89mm-8.84X8.84mm合金翻盖探针老化座

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.89mm
适配芯片尺寸：8.84*8.84mm
更多 +

: 定制BGA331pin（实际下针188PIN）-0.65mm-13x13mm合金旋钮翻盖探针测试座

BGA331pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：331pin（实际下针188pin）
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：13*13mm
更多 +

: 定制QFP128pin-0.4mm-14x14mm合金旋钮翻盖探针测试座

QFP128pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：128pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片本体尺寸：14*14mm
含引脚尺寸：16*16mm
更多 +

: 定制DFN5pin-0.45mm-2.2X3.5mm合金无磁翻盖测试座

DFN5pin芯片无磁测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：5pin
芯片引脚间距：0.45mm
适用芯片尺寸：2.2*3.5mm
更多 +

: 定制LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座

LCC84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：29.21*29.21mm
更多 +

: 定制BGA252pin-0.8mm-13x13mm合金旋钮测试座

BGA252pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：252pin
芯片引脚间距：0.8mm
适用芯片尺寸：13*13mm
更多 +

: QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座

QFP100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.65mm
芯片本体尺寸：20*20mm
含引脚尺寸：24*24mm
更多 +

: 定制LCC48pin-0.5mm-8.5x8.5mm合金翻盖探针测试座

LCC48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：8.5*8.5mm
更多 +

: QFN20pin-0.65mm芯片老化测试座

QFN20pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：5*5mm
更多 +

: SOT23-3pin-1.4mm芯片老化测试座

SOT23-3pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOT23
芯片引脚：3pin
适配IC本体尺寸：1.4mm
适配IC含引脚尺寸：2.4mm
更多 +

: JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座

JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：JFP/OTS/SOP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5mm
更多 +

: 定制JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座

JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：SOP/JFP/OTS
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：1.9mm
适配芯片尺寸：10.5mm
更多 +

: QFP64pin-0.5mm-10×10mm下压弹片老化测试座

QFP64pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：10*10mm
含引脚尺寸：12*12mm
更多 +

: QFP32pin-0.8mm-7×7mm翻盖弹片老化座

QFP32pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片本体尺寸：7*7
喊引脚尺寸：9*9
更多 +

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