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定制LGA14pin-0.5mm-2.5x3mm塑胶翻盖测试座
LGA14pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:2.5×3mm
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定制模块PLCC48pin-1.0mm-16.4x16.4mm合金翻盖探针测试座
PLCC48pin模块探针测试座规格参数:
封装类型:PLCC
模块引脚:48pin
引脚间距:1.0mm
模块尺寸:16.4×16.4mm
模块厚度:4.0mm
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定制QFN100pin-0.5mm-8X8mm合金翻盖测试座
QFN100pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:100pin
芯片尺引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:8×8mm
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定制DFN16pin-0.65mm-5X6mm翻盖探针合金测试座
DFN16pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:0.6mm
芯片尺寸:5×6mm
芯片厚度:0.75mm
更多 +
定制BGA225pin-0.8pin-12X12mm合金旋钮探针测试座
BGA225pin封装芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:225pin
芯片引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:12×12mm
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定制QFN80pin-0.5mm-6X6mm翻盖合金测试座
QFN80pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:80pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:6×6mm
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WSON8/WLP8编程烧录座-DFN8pin-1.27mm-6x8mm转USB接口测试座
DFN8pin转USB接口芯片测试座规格参数
芯片封装类型:DFN8/QFN8/WSON8通用
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:1.27mm
芯片尺寸:6×8mm
更多 +
全新UFS153转USB3.0测试座 SM3350主控153
芯片烧录
测试老化SOCKET
产品名称:UFS153转USB3.0测试座
适配芯片规格:ufs153ball 间距0.5mm 尺寸11.5*13mm
测试座用途: 对UFS芯片进行读写,测试,烧录
更多 +
晶圆级封装 WLCSP115pin封装
芯片烧录
座夹具 读写编程座 老化测试座socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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3215-2pin贴片晶振测试座 翻盖探针老化座 3.2×1.5mm 测试座工厂
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规格尺寸:引脚间距0.5mm,芯片本体(不含引脚)宽度3mm
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3215-2pin贴片晶振测试座
一、型号: 3215(3.2*1.5mm)2PIN 二、脚位:2 三、芯片尺寸:3.2*1.5mm
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5032-2pin贴片晶振测试座
一、产品用途:老化座、测试座,对5032(5.0*3.2)的IC芯片进行高低温老化测试
二、适用封装: 5032(5.0*3.2)-2PIN晶振
三、探针结构,接触稳定、体积小。
四、采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长
...
更多 +
2520-4pin贴片晶振测试座
一、产品用途:老化座、测试座,对2520(2.5*2.0)的IC芯片进行高低温老化测试
二、适用封装: 2520(2.5*2.0)-4PIN晶振
三、探针结构,接触稳定、体积小。
四、采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长
...
更多 +
宽体SSOP20/tssop20(34)-0.65下压弹片
芯片烧录
座
ssop20(34)-0.65烧录座大量现货当天发!
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉!
【 本款烧录座适配芯片规格:SSOP/TSSOP封装、20PIN、引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度5.3-5.7mm。 】
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LGA52翻盖探针转DIP48芯片测试编程座
LGA52翻盖探针转dip48测试座 LGA52烧录座转TSOP48编程座 测试架
探针可更换可维修,寿命长,兼容12*17mm和14*18mm 两种尺寸
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BGA100翻盖弹片转DIP48测试座 flash芯片测试座
深圳鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN/QFP、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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座 闪存测试座
产品用途:老化座、测试座,对TSOP48的IC芯片进行测试、烧录
适用封装:TSOP48 引脚间距0.5mm
测 试 座:TSOP48烧录座
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