全站搜索 - 鸿怡电子 - 鸿怡电子官网

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：鸿怡电子

: 定制LGA48(实际下针48+5）pin-1.27mm-16x23mm合金翻盖探针测试座

LGA48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：48pin，实际下针（48+5）53pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：16*23mm
更多 +

: 定制QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖测试座

QFN64pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：9*9mm
更多 +

: 定制QFN40pin-0.4mm-4x6x0.85mm塑胶翻盖测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*6mm
芯片厚度：0.85mm
更多 +

: 定制晶振3215-8pin-0.85mm-3.2x1.5mm下压合金顶窗式测试座

3215-8pin晶振测试座规格参数：
晶振型号：3215
引脚：8pin
引脚间距：0.85mm
适配尺寸：3.2*1.5mm
更多 +

: 定制DFN8pin-0.5mm-1.2x2.0mm封装芯片下压合金顶窗式测试座

DFN8pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：1.2*2.0mm
更多 +

: 定制TO247-3pin-5.44mm合金翻盖测试座

TO247-3L测试座规格参数：
封装形式：TO247
引脚：3pin
间距：5.44mm
本体尺寸：16mm
含引脚尺寸：41mm
更多 +

: 定制LCC8pin-1.27mm-5x5mm一拖九工位合金翻盖测试座

LCC8pin芯片一拖多工位测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5*5mm
一拖九工位测试座
更多 +

: 定制QFN22pin-0.86mm-7x7mm合金翻盖测试座

QFN22pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：22pin
芯片引脚间距：0.86mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: QFN48pin-0.5mm-7x7mm芯片老化测试座

QFN48pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: 定制BGA72pin-1.0mm-12x12mm合金翻盖探针测试座

BGA72pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：72pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：12*12mm
更多 +

: JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件老化测试座

JFP8pin元器件老化座规格参数：
元器件封装形式：JFP
元器件引脚：8pin
元器件引脚间距：1.27mm
适配元器件尺寸：7.5mm
更多 +

: JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件编程烧录座

JFP8pin元器件编程烧录座规格参数：
芯片封装形式：JFP
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：7.5mm
带转接板烧录座
更多 +

: DFN8pin-0.5mm-2X2mm芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: SOP14（20）pin-1.27mm芯片下压老化测试座

SOP芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：14（20）pin
芯片引脚间距：1.27mm
更多 +

: QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化测试座（带顶针）

QFN16pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3*3mm
更多 +

: SOD123-2pin-2.7mm二极管老化测试座

SOD123二极管老化测试座规格参数：
封装类型：SOD123
pin脚：2pin
适配IC本体尺寸：2.7mm
适配IC含引脚尺寸：3.7mm
更多 +

: 定制LGA32pin-1.0mm-19x12mm一拖20工位合金旋钮双扣测试座

LGA32pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：19*12mm
双扣式手自一体测试座
更多 +

: QFN40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖老化测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm
更多 +

: DFN6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座

DFN6pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: 定制BGA100pin-1.0mm-11x11mm塑胶翻盖测试座

BGA100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：11*11mm
更多 +

首页上一页 <... 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 ...> 下一页尾页

相关搜索

热点聚焦

鸿怡电子测试座的应用介绍: 测试座就是一种具有测试...

探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...: BGA测试座具有哪些特点？...

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



