全站搜索 - 鸿怡电子 - 鸿怡电子官网

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：鸿怡电子

: 定制LGA193pin-1.0mm-23x23mm摄像传感芯片测试座

LGA193pin摄像传感芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：193pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：23*23mm
更多 +

: 定制QFN32pin-0.89mm-8.84X8.84mm合金翻盖探针老化座

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.89mm
适配芯片尺寸：8.84*8.84mm
更多 +

: 定制BGA331pin（实际下针188PIN）-0.65mm-13x13mm合金旋钮翻盖探针测试座

BGA331pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：331pin（实际下针188pin）
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：13*13mm
更多 +

: 定制QFP128pin-0.4mm-14x14mm合金旋钮翻盖探针测试座

QFP128pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：128pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片本体尺寸：14*14mm
含引脚尺寸：16*16mm
更多 +

: 定制DFN5pin-0.45mm-2.2X3.5mm合金无磁翻盖测试座

DFN5pin芯片无磁测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：5pin
芯片引脚间距：0.45mm
适用芯片尺寸：2.2*3.5mm
更多 +

: 定制LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座

LCC84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：29.21*29.21mm
更多 +

: 定制BGA252pin-0.8mm-13x13mm合金旋钮测试座

BGA252pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：252pin
芯片引脚间距：0.8mm
适用芯片尺寸：13*13mm
更多 +

: QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座

QFP100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.65mm
芯片本体尺寸：20*20mm
含引脚尺寸：24*24mm
更多 +

: 定制LCC48pin-0.5mm-8.5x8.5mm合金翻盖探针测试座

LCC48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：8.5*8.5mm
更多 +

: QFN20pin-0.65mm芯片老化测试座

QFN20pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：5*5mm
更多 +

: SOT23-3pin-1.4mm芯片老化测试座

SOT23-3pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOT23
芯片引脚：3pin
适配IC本体尺寸：1.4mm
适配IC含引脚尺寸：2.4mm
更多 +

: JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座

JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：JFP/OTS/SOP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5mm
更多 +

: 定制JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座

JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：SOP/JFP/OTS
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：1.9mm
适配芯片尺寸：10.5mm
更多 +

: QFP64pin-0.5mm-10×10mm下压弹片老化测试座

QFP64pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：10*10mm
含引脚尺寸：12*12mm
更多 +

: QFP32pin-0.8mm-7×7mm翻盖弹片老化座

QFP32pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片本体尺寸：7*7
喊引脚尺寸：9*9
更多 +

: QFP100pin-0.5mm-14×14mm芯片下压弹片老化测试座

QFP100pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：14*14mm
含引脚尺寸：16*16mm
更多 +

: TO247-3L车规级功率器件下压老化测试座

TO247-3L功率器件老化座规格参数：
封装类型：TO247
引脚：3pin
引脚间距：2.54mm
更多 +

: 定制晶振5032-10pin-1.0mm-5x3.2mm一拖16工位合金翻盖测试座

5032晶振一拖16工位测试座规格参数：
晶振引脚：10pin
晶振引脚间距：1.0mm
晶振尺寸：5*3.2mm（5032）
一拖16工位测试座
更多 +

: 定制BGA24pin-1.0mm-6x8mm塑胶翻盖晶振测试座

BGA24pin晶振测试座规格参数：
封装类型：BGA
引脚：24pin
引脚间距：1.0mm
适用芯片尺寸：6*8mm
更多 +

: 定制17pin-1.54mm-29x29mm金手指模块测试座

金手指模块测试座规格参数：
模块引脚：17pin
模块引脚间距：1.54mm
模块尺寸：29*29mm
更多 +

首页上一页 <... 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 ...> 下一页尾页

相关搜索

热点聚焦

鸿怡电子测试座的应用介绍: 测试座就是一种具有测试...

探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...: BGA测试座具有哪些特点？...

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



