全站搜索 - andk - 鸿怡电子官网

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：andk

: SOP32pin-0.65mm芯片测试座

SOP32pin芯片测试座规格参数：
生产品牌：ANDK
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.65mm
本体尺寸：3.9mm
含引脚尺寸：6mm
更多 +

: 定制SOP8-1.27下压弹片老化座（ANDK)

更多 +

: 定制非标SOP24-1.27-OTNHPGH 测试座夹具 socket 治具弹跳座

根据客户的非标需求，使用我司ANDK标准SOP系列切割改动而成
沿用镀金弹片夹式与IC引脚接触，接触稳定、损伤少、良率高
采用与PCB焊接的链接方式，接触阻抗更低
采用耐高温工程塑胶材料，适用于老化湿...
更多 +

: BGA306测试治具 BGA测试架 CPU测试夹具 FPGA测试治具 BGA测试座

采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保IC定位精确；
采用浮板...
更多 +

: BGA137下压弹片测试座67pin 不带板座子 bga封装芯片测试座 ANDK

本款下压老化座适配BGA封装137PIN的芯片，老化座实际下针62PIN
适配尺寸10.5mm*13mm 间距0.8mm
深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、...
更多 +

: QFN32-0.5(5*5)下压弹片IC测试座

工厂直售欢迎采购性价比高！
QFN32新结构下压弹片老化座，
QFN32 （5*5）-0.5下压老化座 ANDK自有品牌，
【0.5间距/不带板】
更多 +

: QFN8-0.8(4*3)下压探针芯片老化测试座

DFN8测试座 WSON8-0.8转接座 QFN84*3mm 下压探针老化座厂家
工厂直销店铺欢迎批发封装种类齐全，性价比高！
下压探针测试座，寿命长 DFN8-0.8 ANDK自有品牌，大量现货当天发！【0.8间距/不带板】
更多 +

: QFN8-1.27(6*8)下压探针芯片测试座

DFN8测试座 WSON8-1.27转接座 QFN8 6*8mm下压探针老化座厂家
工厂直销欢迎批发封装种类齐全，性价比高
下压探针测试座，寿命长 DFN8-1.27ANDK自有品牌，大量现货当天发！【1.27间距/不带板】
更多 +

: DFN8-0.5(3*3)翻盖探针芯片测试座

WSON8烧录座DFN8-0.5间距3*3mm 翻盖探针测试座MLP8编程座
工厂直销欢迎批发质优价廉！性能稳定！寿命长！
翻盖探针测试座，体积小,WSON\QFN\DFN8-0.5ANDK自有品牌，最快一天交货！
【0.5间距/带板...
更多 +

: DFN8-1.27(5*5)翻盖探针芯片测试座

WSON烧录座DFN8-1.27间距5*5mm翻盖探针测试座MLP8编程座厂家直销
工厂直销店铺欢迎批发封装种类齐全，品质保证性价比高！
翻盖探针测试座，体积小，WSON\QFN\DFN8（5*5）-1.27ANDK自有品牌，最快一天交...
更多 +

: DFN6-0.65(2*2)下压探针芯片老化测试座

工厂直供 DFN6测试座WSON6-0.65转接座QFN6 2*2mm下压探针老化座
工厂直销店铺欢迎批发，测试座种类齐全各种封装保证品质，性价比高！
下压探针测试座，寿命长 DFN6-0.65 ANDK自有品牌，大量现货当天发！...
更多 +

: QFN8-08(4*3)下压探针芯片老化测试座

DFN8测试座WSON8-0.8转接座QFN84*3mm下压探针老化座
鸿怡工厂直销欢迎批发型号齐全，实惠天下！性价比高！
下压探针测试座，寿命长 DFN8-0.8 ANDK自有品牌，大量现货当天发！
更多 +

: QFN8-0.5(2*2)下压探针芯片老化测试座

DFN8测试座WSON8-0.5转接座QFN8 2*2mm下压探针老化座
工厂直销店铺欢迎批发型号齐全，质优价廉！性价比高！
下压探针测试座，寿命长、可耐高温 DFN8-0.5
ANDK自有品牌，大量现货当天发！
更多 +

[常见问题]ANDK鸿怡电子QFN系列弹片老化测试座夹具的验收及焊接使用注意事项2022年09月21日 10:27: 本简介主要概述我司塑胶弹片老化测试座注意事项！！！ ***须知：弹片座与PCBA焊接使用，一旦焊接无法维修及无损拆卸，一旦焊接我司不提供退换服务，因此收到货物后请务必先检查座子情况再进行焊接使用。; 阅读（73）标签：

[鸿怡动态]BGA107下压弹片老化座_Flash闪存颗粒测试座_0.8间距ANDK编程座2021年09月23日 10:18: 工厂介绍鸿怡电子生产BGA107下压弹片老化座_Flash闪存颗粒测试座_0.8间距ANDK编程座，同时还生产其他IC芯片测试夹具治具。; 阅读（24）标签：BGA测试座|BGA定制测试座|BGA老化测试座|产品

[鸿怡动态]BGA48下压弹片老化座0.8mm间距编程座_ANDK测试座2021年09月22日 11:41: 工厂介绍鸿怡电子生产BGA48下压弹片老化座0.8mm间距编程座_ANDK测试座，同时还生产其他IC测试夹具治具。; 阅读（23）标签：BGA定制测试座|BGA测试座|产品

[鸿怡动态]鸿怡电子-ANDK测试socket助力芯片可靠性试验2020年05月14日 15:10: 可靠性测试是芯片测试的最后一环节，在进行可靠性测试后的芯片才可以流入市场。可靠性测试，主要就是针对芯片施加各种苛刻环境，比如ESD静电，就是模拟人体或者模拟工业体去给芯片加瞬间大电压。再比如老化HTOL【High Temperature Operating Life】，就是在高温下加速芯片老化，然后估算芯片寿命。还有HAST【Highly Accelerated Stress Test】测试芯片封装的耐湿能力，待测产品被置于严苛的温度、湿度及压力下测试，湿气是否会沿者胶体或; 阅读（211）标签：

[鸿怡动态]ANDK测试座之RF射频芯片测试座2020年05月05日 15:26: 我们都知道，射频组件和射频芯片是无线连接的核心，也是半导体行业的重要组成部分。随着5G和WIFI6的出现，射频技术也遇到了新的挑战和机遇。目前，射频组件和射频芯片的设计和生产能力仍然比较薄弱。随着国家战略调整政策的实施，越来越多的资源投入到射频组件和芯片的开发和生产中。在这个过程中，在中国，迫切需要满足RF芯片的生产测试。测试中的困难是： 1.被测设备越来越小，测试频率越来越高。许多设备的尺寸小于1mm。测试频率高于40GHZ。 2.受测试夹具和校准的影响，如何准确测量是; 阅读（167）标签：

[行业资讯]5G时代芯片测试工程师面临的具大挑战！2019年08月21日 14:09: 相比于 4G 网络，5G 网络速度可达 4G 的数倍乃至数十倍，这其中毫米波技术无疑5G时代关键一环，具有重要的应用前景。作为芯片业者，5G时代对应的相关IC芯片测试，对测试工程师们具有很大挑战。IC测试亟需快速、准确且经济高效的测试解决方案来确保新型芯片设计的可靠性。5G芯片即将推出，ANDK测试座也将提供支持5G芯片测试的IC test socket产品。 5G时代芯片测试的五大挑战 1.波形变得更宽且更复杂。研究人员和工程师在测试5G设备时，; 阅读（114）标签：

[鸿怡动态]鸿怡电子--致力于test socket市场2019年06月05日 17:52: 在Test Socket市场上，众多韩国以及国外的企业竞争十分激烈。然而在如此激烈的竞争中，却有一家企业在ICSocket领域独占鳌头。随着存储芯片逐渐向微型发展，将锡球贴在芯片的下端后，主要采用与电路板（PCB）接合的球栅阵列封装（BGA）技术，这种情况下ANDKSocket更为合适。鸿怡电子研发了两款弹片结构的BGA老化测试socket,一种为单面弹，采用传统焊接方式与PCB板固定，另一种为双面弹，采用我司创新的锁螺丝方式与PCB板固定。客户可根据实际情况自由选择。与; 阅读（92）标签：

1 2 下一页尾页

相关搜索

热点聚焦

鸿怡电子测试座的应用介绍: 测试座就是一种具有测试...

探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...: BGA测试座具有哪些特点？...

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



