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BGA153测试治具EMMC测试架BGA153测试座老化座手机字库测试架BGA顶窗下压测试座
类型:合金顶窗按压式
封装:BGA153
IC尺寸:11.5*13mm
间距:0.5mm
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嵌入式芯片测试夹具BGA484测试治具BGA484-0.8测试座BGA484测试架
型号: BGA484-0.8-18*18
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
适用场景: 测试,烧录,编程,老化
封装方式: BGA
引脚间距: 0.8mm
总尺寸 (含引脚): 18x18x1mm
主体尺寸: 18x18x1mm
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IC检测治具pogo PIN测试座 集成模块测试架 模块烧录夹具 测试座
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 测试,烧录,老化
封装方式: 邮票孔
引脚间距: 1.27mm
总尺寸 (含引脚): 25x20x1mm
主体尺寸: 25x15x1mm
引脚数...
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BGA306测试治具 BGA测试架 CPU测试夹具 FPGA测试治具 BGA测试座
采用手动翻盖式结构,操作方便;
上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽,保IC定位精确;
采用浮板...
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邮票孔模块测试治具 模块测试架 定制测试座 集成模块测试治具
产品特点及性能参数:
采用手动翻盖式结构,操作方便;
上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽,保I...
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CPU测试治具 BGA1156球测试架 CPU测试架 PBGA测试治具 CPU测试座
采用手动翻盖式结构,操作方便;
上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
高精度的定位槽或导向孔,...
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定制BGA256-0.8芯片老化座 测试座
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定制BGA63一拖二测试治具
在客供的PCB主板装上一拖二式测试座
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定制摄像头芯片BGA80合金翻盖探针测试座
型号: BGA80-1.0合金翻盖探针测试座
适用场景: 测试 烧录 编程 老化
封装方式: BGA
引脚间距: 1mm
引脚数: 80个
测试座类型: 翻盖式
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定制三星UFS2.1芯片测试治具 三星手机测试架
可根据客户需求定制各类UFS测试治具.
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上,直接将socket精准的固定在产品之上
无需layout,大大降低测试成本,广泛适用于ODM/半导体FAE部门的IC验证。
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定制BCM-bga516芯片测试治具
厂家直销,定制BCM-bga516芯片测试治具
无需重新lay板,直接在客供的PCB板上装上治具
脚位精准,测试稳定
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手机芯片UFS2.0 2.1测试座 合金探针老化座 翻盖式插座 UFS编程座
可根据客户需求定制各类UFS测试治具。
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上,直接将socket精准的固定在产品之上,无需layout,大大降低测试成本,广泛适用于ODM/半导体FAE部门的IC验证。
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定制EMMC153/169芯片测试治具
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客制品展讯手机P7715A测试治具
客制品,主板由客户提供
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BGA63-0.8翻盖探针转48测试座BGA63-0.8烧录座U盘转DIP48
BGA63翻盖探针转DIP48测试座
BGA63 socket 翻盖式bga转48工厂直销
间距0.8mm 常见尺寸9*11;10.5*13.5
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BGA137探针座BGA137翻盖探针转48测试座socket 翻盖式读写烧录座
深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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BGA784芯片测试座 定制BGA测试socket
材质: PES,PEI
导电体: 镀金探针
触点压力: 30-50g Per Pin
接触阻抗:30mΩ or less at 10mA and 20mV (Initial)
耐电压: 1MinuteATAC700
绝缘电阻:1000 MΩ Min,At DC 500V
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最小间距可做到0.25mm,一件起订
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