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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: SOP16(20)-1.27下压弹片IC老化座

绝缘体： PEI、PPS
弹片：铍铜
寿命： 1.5万次
工作温度： -60℃~155℃
更多 +

: SOP8(20)-1.27下压弹片IC老化座

绝缘体： PEI、PPS
弹片：铍铜
寿命： 1.5万次
工作温度： -60℃~155℃
更多 +

: SOP16(16)-1.27下压弹片芯片测试老化座

绝缘体： PEI、PPS
弹片：铍铜
寿命： 1.5万次
工作温度： -60℃~155℃
更多 +

: SOP14(16)-1.27芯片测试老化座

绝缘体： PEI、PPS
弹片：铍铜
寿命： 1.5万次
工作温度： -60℃~155℃
更多 +

: TSOP48宽窄共用IC闪存测试老化座

产品用途：老化座、测试座，对TSOP48的IC芯片进行测试
适用封装：TSOP48 引脚间距0.5mm
测试座： TSOP48宽窄共用老化座
特点：宽窄共用，直接采用客户提供的产品板简便快捷验证精准...
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: DFN8烧录座 DFN8(6*5)-1.27翻盖探针IC测试座

产品用途:编程座、测试座，对DFN8的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:DFN8 引脚间距1.27mm
测试座:DFN8(5*6)-1.27
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN52-0.5翻盖弹片IC测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试
适用封装:QFN52引脚间距0.5mm
测试座:QFN52-0.5
特点:采用U型顶针，接触更稳定
更多 +

: QFN60-0.4翻盖弹片IC测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对QFN60的IC芯片进行老化、测试
适用封装:QFN60引脚间距0.4mm
测试座:QFN60-0.4
特点:采用U型顶针，接触更稳定
更多 +

: QFN48-0.4翻盖弹片双层板IC测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFN48-0.4
测试座：QFN48-0.4烧录座
更多 +

: QFN48-0.5翻盖弹片IC测试老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFN48-0.5
测试座：QFN48-0.5老化座
更多 +

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