全站搜索 - ic测试 - 鸿怡电子官网

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：ic测试

: 定制DFN13pin-0.9mm-6x6mm合金翻盖弹片测试座

DFN13pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：13pin
芯片引脚间距：0.9mm
适配芯片尺寸：6*6mm
芯片厚度：0.6mm
更多 +

: 定制WLCSP16pin-0.5mm-3.11x2.87mm合金下压顶窗烧录座

WLCSP16pin芯片烧录座规格参数：
芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3.11*2.87mm
芯片厚度：0.45mm
更多 +

: 定制CLCC84pin-0.8mm-22X22mm合金翻盖测试座

CLCC84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：CLCC
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：22*22mm
芯片厚度：4.25mm
更多 +

: 定制连接器测试微针模组10pin-0.35mm合金翻盖式测试座

连接器测试微针模组测试座规格参数：
大电流弹片测试微针模组
连接器pin脚：10pin
引脚间距：0.35mm
被测连接器弹片宽度≤0.1mm
更多 +

: 定制DFN13pin-0.9mm-6x6mm合金翻盖探针测试座

DFN13pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：13pin
芯片引脚间距：0.9mm
适配芯片尺寸：6*6mm
更多 +

: 定制QFN20pin-0.5mm-3.5x3.5mm合金翻盖探针测试座

QFN20pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3.5*3.5mm
芯片厚度：0.75mm
更多 +

: DFN8pin-0.65mm-3.3x3.3mm翻盖弹片老化测试座

DFN8老化测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：3.3*3.3mm
更多 +

: 定制DDR96ball-0.8mm合金翻盖探针测试座

DDR96ball探针测试座（DDR夹球座子）规格参数：
封装形式：BGA96pin/DDR96ball
引脚：96pin,内存颗粒：96ball
引脚/内存颗粒间距：0.8mm
尺寸：13*7.5mm
制作方式：一件加工定制
更多 +

: 定制电感SMD2pin-5.25x2.16塑胶翻盖探针测试座

贴片电感SMD2pin测试座规格参数：
贴片电感SMD
引脚：2pin
引脚间距：5.25mm
适配尺寸：2.1*6mm
更多 +

: 定制LGA54（实际下针54+48pin)-1.1mm-17x22mm合金旋钮探针测试座

LGA54pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：54pin（实际下针54+48pin）
芯片引脚间距：1.1mm
适配芯片尺寸：17*22mm
更多 +

: 定制LGA48(实际下针48+5）pin-1.27mm-16x23mm合金翻盖探针测试座

LGA48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：48pin，实际下针（48+5）53pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：16*23mm
更多 +

: 定制QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖测试座

QFN64pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：9*9mm
更多 +

: 定制QFN40pin-0.4mm-4x6x0.85mm塑胶翻盖测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*6mm
芯片厚度：0.85mm
更多 +

: 定制晶振3215-8pin-0.85mm-3.2x1.5mm下压合金顶窗式测试座

3215-8pin晶振测试座规格参数：
晶振型号：3215
引脚：8pin
引脚间距：0.85mm
适配尺寸：3.2*1.5mm
更多 +

: 定制DFN8pin-0.5mm-1.2x2.0mm封装芯片下压合金顶窗式测试座

DFN8pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：1.2*2.0mm
更多 +

: 定制TO247-3pin-5.44mm合金翻盖测试座

TO247-3L测试座规格参数：
封装形式：TO247
引脚：3pin
间距：5.44mm
本体尺寸：16mm
含引脚尺寸：41mm
更多 +

: 定制LCC8pin-1.27mm-5x5mm一拖九工位合金翻盖测试座

LCC8pin芯片一拖多工位测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5*5mm
一拖九工位测试座
更多 +

: 定制QFN22pin-0.86mm-7x7mm合金翻盖测试座

QFN22pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：22pin
芯片引脚间距：0.86mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: QFN48pin-0.5mm-7x7mm芯片老化测试座

QFN48pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: 定制BGA72pin-1.0mm-12x12mm合金翻盖探针测试座

BGA72pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：72pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：12*12mm
更多 +

首页上一页 <... 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 ...> 下一页尾页

相关搜索

定制IC测试架

热点聚焦

鸿怡电子测试座的应用介绍: 测试座就是一种具有测试...

探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...: BGA测试座具有哪些特点？...

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



