全站搜索 - ic测试 - 鸿怡电子官网

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：ic测试

: JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件老化测试座

JFP8pin元器件老化座规格参数：
元器件封装形式：JFP
元器件引脚：8pin
元器件引脚间距：1.27mm
适配元器件尺寸：7.5mm
更多 +

: JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件编程烧录座

JFP8pin元器件编程烧录座规格参数：
芯片封装形式：JFP
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：7.5mm
带转接板烧录座
更多 +

: DFN8pin-0.5mm-2X2mm芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: SOP14（20）pin-1.27mm芯片下压老化测试座

SOP芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：14（20）pin
芯片引脚间距：1.27mm
更多 +

: QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化测试座（带顶针）

QFN16pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3*3mm
更多 +

: SOD123-2pin-2.7mm二极管老化测试座

SOD123二极管老化测试座规格参数：
封装类型：SOD123
pin脚：2pin
适配IC本体尺寸：2.7mm
适配IC含引脚尺寸：3.7mm
更多 +

: 定制LGA32pin-1.0mm-19x12mm一拖20工位合金旋钮双扣测试座

LGA32pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：19*12mm
双扣式手自一体测试座
更多 +

: QFN40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖老化测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm
更多 +

: DFN6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座

DFN6pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: 定制BGA100pin-1.0mm-11x11mm塑胶翻盖测试座

BGA100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：11*11mm
更多 +

: 定制LGA193pin-1.0mm-23x23mm摄像传感芯片测试座

LGA193pin摄像传感芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：193pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：23*23mm
更多 +

: 定制QFN32pin-0.89mm-8.84X8.84mm合金翻盖探针老化座

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.89mm
适配芯片尺寸：8.84*8.84mm
更多 +

: 定制BGA331pin（实际下针188PIN）-0.65mm-13x13mm合金旋钮翻盖探针测试座

BGA331pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：331pin（实际下针188pin）
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：13*13mm
更多 +

: 定制QFP128pin-0.4mm-14x14mm合金旋钮翻盖探针测试座

QFP128pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：128pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片本体尺寸：14*14mm
含引脚尺寸：16*16mm
更多 +

: 定制DFN5pin-0.45mm-2.2X3.5mm合金无磁翻盖测试座

DFN5pin芯片无磁测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：5pin
芯片引脚间距：0.45mm
适用芯片尺寸：2.2*3.5mm
更多 +

: 定制LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座

LCC84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：29.21*29.21mm
更多 +

: 定制BGA252pin-0.8mm-13x13mm合金旋钮测试座

BGA252pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：252pin
芯片引脚间距：0.8mm
适用芯片尺寸：13*13mm
更多 +

: QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座

QFP100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.65mm
芯片本体尺寸：20*20mm
含引脚尺寸：24*24mm
更多 +

: 定制LCC48pin-0.5mm-8.5x8.5mm合金翻盖探针测试座

LCC48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：8.5*8.5mm
更多 +

: QFN20pin-0.65mm芯片老化测试座

QFN20pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：5*5mm
更多 +

首页上一页 <... 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 ...> 下一页尾页

相关搜索

定制IC测试架

热点聚焦

鸿怡电子测试座的应用介绍: 测试座就是一种具有测试...

探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...: BGA测试座具有哪些特点？...

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



