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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: PDFN/TOLL/TO等封装的大电流大功率半导体器件MOS场效应管老化测试座测试夹具工装老化插座socket

老化座特点： ①该老化座采用PEI耐高温塑胶材料注塑成型，适用于长时间高温高湿（85%HR，175℃）环境下老化（htol/hast）且交期短； ②采用按压式结构，适用于自动化设备大批量放取MOS场效应管器件，大大提高测试效...
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: 定制 WOSN8 DFN8 QFN8 翻盖探针测试座烧录座烧录夹具

测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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: 定制QFN6-0.5-1.5x1.5-CCP老化座

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: 定制QFN2-0.65_1.0×0.6定制合金翻盖测试座

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: 定制LCC7-2.54合金翻盖探针测试座

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: 定制QFN24-0.5(4×4)合金翻盖测试座

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: 定制QFN16-0.65（4×4）翻盖探针老化座

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: 定制QFN48-0.4-6×6-0.85翻盖合金测试座

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: 定制DFN12-0.4_2.4×1.5翻盖测试座

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: 定制QFN52-0.4(6×6)翻盖探针测试座

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: 定制QFN56-0.4（7×7）下压合金顶窗式探针测试座

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: 定制QFN28-0.5芯片测试座

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: 定制QFN20-0.5-4×4×1.25翻盖合金测试座

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: 定制QFN48pin-0.35 5×5上下翻盖探针测试座

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