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定制BGA144-15x15合金旋钮翻盖测试座老化座高温老炼夹具测试
socket
产品简介
①适配封装:BGA144,pitch1.27mm,尺寸15*15mm,厚度1.15mm。
②电气性能:频率600Mhz,电压小于5V,电流小于1A。
③使用环境温度:-55℃~155℃,85%rh,1000小时。
④应用场景:老化...
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定制LGA84翻盖合金测试座老化夹具烧录夹具
socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制LCC48-1.0合金翻盖探针测试座烧录座夹具
socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制22pin惯性传感器模块测试座
socket
老化老炼夹具
产品特点:?
①翻盖旋钮结构,压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短...
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定制邮票孔模块测试座烧录
socket
夹具治具
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;?
高精度的定位槽,保IC定位精确;
探针可更换,维修方便,成本低;
KEEP工程绝缘材料制作;
最小可做到跳距pitch=0.35mm(引...
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BGA900ball封装CPU测试座夹具治具
socket
高频探针老化老炼夹具
产品参数:
1、工作温度:-40℃~125℃@1000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:PEI、PPS;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单PIN额定电压&电流:直...
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QFN48-0.35(5x5)烧录座 读写 夹具 测试座 老化 老炼治具
socket
材料&特性:
socket
本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:2A
使...
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MCU 测试
socket
QFN64烧录座 读写夹具 测试座 老化座老炼夹具9*9
材料&特性:
socket
本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:1A
使...
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定制22pin-1.27(本体30x30mm,含引脚30x42mm)碟形管壳模块测试座测试夹具治具
socket
产品简介:蝶形金属管壳封装器件测试老化座
器件规格:22pin高速蝶形模块, 间距1.27mm ,本体尺寸30*30mm
电气性能要求:老化温度150℃@3000小时。
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SOP16自动机台烧录座夹具合金探针pogoPIN测试读写
socket
应用:自动机台设备烧录 ①结构:下压式; ②外壳材质:铝合金; ③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金; ④核心部件材质:peek陶瓷; ⑤额定电流:1A; ⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大; ⑦接触电阻:<...
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定制 QFN64 射频芯片 测试座 加接地铜块散热 测试夹具 老化座
socket
性能参数:
工作频率:8GHZ@1DB;
工作温度:-55℃~155℃;
单PIN电流:1A;
功率:3W;
接触阻抗:≤100mΩ
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BGA\FBGA\PGA 测试架 544ball 测试治具 夹具 翻盖旋钮探针
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试BGA544封装的CPU。
测试架类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:1.2Ghz
特点:
1:采用翻盖式旋钮结构,压力均匀,不移...
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定制 QFN40 MCU 测试架 测试治具 测试夹具 测试工装
socket
探针
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试MCU芯片QFN40封装的IC是否正常。
特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,...
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定制QFN64翻盖探针测试治具测试架测试座
socket
产品简介:
设计方式:利用客户测试主板上面原有的孔位设计限位及固定、空间占比低,更换简单易维修。
性能参数:频率2.5Gbps
提供三个月免费保修(人为损坏除外)。
保修期外,免费维修,如果...
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定制 邮票孔WiFi模块 测试座 烧录座 48PIN PCB模块测试 夹具
socket
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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定制QFN40-0.35自动化open top
socket
烧录座 夹具 读写编程测试座
测试座(夹具)特性
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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QFN16转DIP16烧录座读写编程座夹具老化测试
socket
3*3
材料&特性:
socket
本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:2A
使...
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晶圆级封装 WLCSP115pin封装 芯片烧录座夹具 读写编程座 老化测试座
socket
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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BGA152/132转DIP48下压弹片高温老化座夹具读写座
socket
材料&特性:
socket
本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:2A
使...
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定制BGA132封装SSD颗粒测试座老化夹具测试工装烧录读写编程座
测试座特点
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖旋钮式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力...
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