全站搜索 - socket - 鸿怡电子官网

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：socket

: DFN8-1.27一拖十六老化测试座适用于自动化设备

型号: DFN8/10一拖十六旋钮下压式老化座
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
适用场景: 测试，烧录，编程，老化
封装方式: QFN
引脚间距: 1.27/0.8/0.5mm
本体尺寸 : 6*8/5*6等
引脚数:...
更多 +

: BGA封装有球测试治具CPU测试架测试夹具探针座IC功能检测socket

客户提供测试主板
夹具IC卡座采用翻盖式旋钮结构，下压平稳受力均匀接触稳定；
使用爪头探针，尖头头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保IC定位精确；
采用浮板结构有...
更多 +

: LFBGA144测试夹具LFBGA-144测试治具BGA144测试座LFBGA-144测试座

型号: BGA144-0.8-10*10
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 测试，烧录，老化
封装方式: BGA
引脚间距: 0.8mm
总尺寸 (含引脚): 10x10x1mm
主体尺寸...
更多 +

: BGA306测试治具 BGA测试架 CPU测试夹具 FPGA测试治具 BGA测试座

采用手动翻盖式结构，操作方便；
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
高精度的定位槽，保IC定位精确；
采用浮板...
更多 +

: LGA24测试座测试治具惯性模块测试座运动传感器测试座

根据用户要求定做各种阵列的socket；
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球；
高精度的定位槽和导向孔，保证IC定位精确，测试效率高；
交期短...
更多 +

: QFN测试烧录座 QFN自动设备用ATE测试座烧录座芯片转换座

测试座（夹具）特点：
①ATE自动化测试结构，适用于机械手放取芯片测试。
②测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
③测试...
更多 +

: HY026-JJ-5.7L双头探针

产品型号：HY026-JJ-5.7L双头探针
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.26mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要...
更多 +

: HY026-JU-5.7L双头探针

产品型号：HY026-JU-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.26mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：...
更多 +

: HY026-UU-5.7L双头探针

产品型号：HY026-UU-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.26mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC t...
更多 +

: HY030-UJ-5.7L 双头探针

产品型号：HY030-UJ-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头、圆头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：...
更多 +

: HY030-UU-5.7L 双头探针

产品型号：HY030-UU-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC t...
更多 +

: HY030-BU-5.7L 双头探针

产品型号：HY030-BU-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为尖头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：...
更多 +

: QFN32-0.5芯片测试翻盖弹片老化座

材料&特性：
socket本体：PEI
弹片材料：铍铜
弹片镀层：镍金
操作压力：0.5KG min ，PIN越多压力越大
绝缘阻抗：1,000MΩ，500VDC
最大电流：2A
使用...
更多 +

: 定制三星UFS2.1芯片测试治具三星手机测试架

可根据客户需求定制各类UFS测试治具.
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上，直接将socket精准的固定在产品之上
无需layout,大大降低测试成本，广泛适用于ODM/半导体FAE部门的I...
更多 +

: 新开模晶振3225探针测试座贴片晶振老化座3225晶振老化座

产品均有尺寸图纸，如有需要请联系客服提供！
3225-4pin晶振探针老化座 3.2×2.5mm crystal socket测试座
更多 +

: 工厂定制LPDDR4X测试座合金翻盖探针座 IC测试座 ICsocket编程座

更多 +

: 手机芯片UFS2.0 2.1测试座合金探针老化座翻盖式插座 UFS编程座

可根据客户需求定制各类UFS测试治具。
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上，直接将socket精准的固定在产品之上，无需layout,大大降低测试成本，广泛适用于ODM/半导体FAE部门的IC验...
更多 +

: BGA63-0.8翻盖探针转48测试座BGA63-0.8烧录座U盘转DIP48

BGA63翻盖探针转DIP48测试座
BGA63 socket 翻盖式bga转48工厂直销
间距0.8mm 常见尺寸9*11;10.5*13.5
更多 +

: 5032-4pin晶振探针老化座 5.0×3.2mm crystal oscillator测试座

工厂直销，接受批发、零售
贴片晶振5032 5.0*3.2mm 4pin晶振双面弹老化座
适用于有源晶振编程、烧录、老化
量大从优，欢迎咨询
更多 +

: BGA137探针座BGA137翻盖探针转48测试座socket 翻盖式读写烧录座

深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
更多 +

首页上一页 <... 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 ...> 下一页尾页

相关搜索

热点聚焦

鸿怡电子测试座的应用介绍: 测试座就是一种具有测试...

探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...: BGA测试座具有哪些特点？...

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



