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定制12pin-2.54mm-19.5x16.5合金翻盖直插式元器件可靠性测试座
元器件可靠性直插式测试座规格参数:
品牌:HMILU
元器件引脚:12pin
元器件引脚间距:2.54mm
适配元器件尺寸:19.5*16.5mm
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定制BGA219pin-1.27mm-21.1x21.1mm塑胶旋钮翻盖测试座
BGA219pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:219pin
芯片引脚间距:1.27mm
适用芯片尺寸:21.1*21.1mm
更多 +
定制QFP80pin-0.4mm-12*12mm手自一体压合式芯片测试座
QFP80pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
结构:手自一体压合式
芯片封装形式:QFP
芯片引脚:80pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:12*12mm
更多 +
定制BGA107pin-1.0mm-14.1x17.1mm合金翻盖老化座
BGA芯片测试座规格参数信息:
品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:107mm
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:14.1*17.1mm
更多 +
定制QFN60pin-0.4mm-7*7mm合金旋钮翻盖探针测试座
QFN60pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:60pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:7*7mm
更多 +
定制模块100pin(实际下针37pin)-0.7mm-13.3x18.4mm合金翻盖测试座
100pin模块测试座规格参数:
品牌:HMILU
模块引脚:100pin,实际下针37pin
模块引脚间距:0.7mm
适配模块尺寸:13.3*18.4mm
更多 +
定制LCC48pin-0.8mm-11x11x1.82mm合金翻盖探针测试座
LCC48pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:11*11mm
芯片厚度:1.82mm
更多 +
定制VSSOP32pin-0.5mm-4.9x8.1mm合金顶窗下压测试座
VSSOP32pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:VSSOP
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:4.9*8.1mm
更多 +
定制VSSOP32pin-0.5mm-4.9x8.1mm合金顶窗下压测试座
VSSOP32pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:VSSOP
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:4.9*8.1mm
更多 +
定制光电模块MSOP8pin-0.65mm-3x3mm合金翻盖探针测试座
MSOP8pin光电模块测试座规格参数:
品牌:HMILU
模块封装形式:MSOP
模块引脚:8pin
模块引脚间距:0.65mm
适配光电模块尺寸 :3*3mm
更多 +
定制QFN32pin-0.5mm-5x5mm合金顶窗下压测试座
QFN32pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:5*5mm
更多 +
定制SOT23--8L-0.65mm-2.9x2.8mm合金顶窗下压测试座
SOT23-8L芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:SOT23
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:2.9*2.8mm
更多 +
定制QFN20pin-0.4mm-3x3mm合金顶窗下压测试座
QFN20pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:3*3mm
更多 +
定制QFN16pin-0.4mm-3x2mm芯片合金顶窗下压测试座
QFN16pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:3*2mm
更多 +
定制BGA169pin-0.5mm-7x7mm芯片合金旋钮翻盖测试座
BGA169pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:169pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:7*7mm
更多 +
定制QFN24pin-0.5mm-4x4mm合金顶窗下压测试座
QFN24pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:4*4mm
更多 +
定制BGA484pin-0.8mm-18x18mm合金翻盖探针测试座
BGA484pin大阵例芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:484pin
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:18*18mm
更多 +
定制LCC24pin-1.27mm-10x10mm合金翻盖探针测试座
LCC24pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:LCC
芯片 引脚:24pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:10*10mm
更多 +
定制DFN13pin-0.4mm-3x3mm芯片合金翻盖探针测试座
DFN13pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:DFN
芯片引脚:13pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:3*3mm
更多 +
定制BGA100pin-0.8mm-10x10mm合金翻盖探针测试座
BGA100pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:100pin
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:10*10mm
更多 +
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