全站搜索 - - 鸿怡电子官网

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：

: UFS合金翻盖芯片测试座

专业定制UFS2.0/3.0芯片测试座；
欢迎有需要的客户，来电来图咨询洽谈
刘小姐：13631538587
更多 +

: QFP44-0.8翻盖合金旋钮IC测试座

工厂直销，QFP44-0.8合金翻盖测试座；
可根据客户需求定制不同封装、间距、尺寸的IC测试座;
欢迎来图，来电咨询洽谈；
更多 +

: BGA152合金翻盖旋钮芯片测试座

※采用手动旋钮翻盖式结构，操作方便；
※上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
※ 探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
更多 +

: 定制BGA256合金翻盖旋钮探针芯片测试座

更多 +

: BGA96-0.8(9.5X11mm)下压探针老化座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA87脚，间距0.8，尺寸7*10mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
更多 +

: eMCP162转20pin测试座手机数据恢复座

工厂直销店铺，质优价廉欢迎采购！
翻盖弹片老化座，eMCP162/186 翻盖弹片老化座，大量现货当天发！
【适配IC常见规格尺寸：11.5*13mm、12*16mm，0.5mm间距；】
更多 +

: EMCP221翻盖旋钮分析测试座+转接板

无需客户lay板，直接采用客户提供的产品板，验证准确，最高主频率可以5GHZ；
socket只要四颗螺丝便可拆下，探针可以跟换，维护简单方便；
白色限位框，可以更换，适用于任何尺寸eMCP221颗粒；
更多 +

: 苹果LGA60翻盖探针带排线硬盘测试座

大小硬盘通用座,改硬盘SN好帮手
采用单排线设计，性能稳定,抗干扰性能好。
翻盖弹片式活动座，寿命高达十万次。
直接焊接在（iPhone4）4代主板上就可以使用。
更多 +

: BGA100翻盖探针转dip48芯片测试座

工厂直销，欢迎批发，质优价廉！
BGA100翻盖探针转DIP48芯片测试座
间距1.0mm，常规尺寸12×18mm、14*18mm，
大量现货，当天发！
更多 +

: BGA87-0.8（7×10）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA87脚，间距0.8，尺寸7*10mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
更多 +

: BGA80-0.8（7×9）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA80脚，间距0.8，尺寸7*9mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
更多 +

: BGA68-0.8（8×12）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA68脚，间距0.8，尺寸8*12mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
更多 +

: BGA64-1.0（10×13）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA64脚，间距1.0，尺寸10*13mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
更多 +

: BGA60-0.5（5×5）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA60脚，间距0.5，尺寸5*5mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
更多 +

: BGA52-0.5（5×6）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA52脚，间距0.5，尺寸5*6mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
更多 +

: BGA48-0.5（4×5）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；本款老化座，适配BGA48脚，间距0.5，尺寸4*5mm的芯片接触稳定，测试寿命长，品质保证！
更多 +

: BGA34-0.5（4×6）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA34脚，间距0.5，尺寸4*6mm的芯片
接触稳定，品质保证！
更多 +

: BGA25-0.5（2×5）下压探针老化测试座

更多 +

: DDR3X8一拖八内存颗粒测试夹具

DDR3×8 一拖四POGO PIN探针结构测试治具
规格：
1、DDR3×8 78 Ball
2、频率F：超过1600Mhz
3、使用于：三星、海力士、华邦、美光等各类内存颗粒
更多 +

: DDR3×16一拖四内存颗粒测试治具

DDR3×16 一拖四POGO PIN探针结构测试治具
规格：
1、DDR3×16 96 Ball pitch：0.8
2、频率F：超过2400Mhz
3、适用于：三星、海力士、现代、华邦、美光、等各类内存颗粒
更多 +

首页上一页 <... 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 ...> 下一页尾页

相关搜索

热点聚焦

鸿怡电子测试座的应用介绍: 测试座就是一种具有测试...

探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...: BGA测试座具有哪些特点？...

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



