随着现代电子信息技术的发展,集成电路IC的使用越来越广泛,随之而来的测试需求也越来越多。常规的IC测试座公司均有专门开模,但是只对对应一种封装参数的芯片。若待测试IC的脚位和尺寸大小发生变化时,往往需要进行定制IC测试座.
鸿怡电子拥有多年的socket设计、制作经验,可根据客户要求,提供专业的探针test socket,适用于IC的研发、测试。
结构示意图:
定制IC测试座数据:
1、应用pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8等
2、材料:FR4/PPS/PEI/Torlon/Peek/Peek+Cenamlc
3、适用IC封装:BGA/QFN/QFP/SOP/WLCSP/LGA/SOP/各类邮票孔芯片/模块等
4、可定制测试座结构:双扣、翻盖旋钮、翻盖、Open-top
5、接触方式:探针
定制IC测试座特点:
1、高精度的定位槽和导向孔,测试准确无误;
2、根据实际测试情况,选用不同的探针,可以对IC进行有锡球、无锡球不同测试;
3、人性化设计,探针可更换,便于拆卸、维护,降低测试成本;
4、进口探针、工程材料配合高精度制作设备,socket测试更稳定,使用寿命更长。