一、 RF射频测试座定义

RF射频测试座是几个部分构成，首先是测试座外壳+测试座射频探针+测试板+RF射频同轴连接器。

RF射频测试座中，大部分结构和普通的测试座类似，只是探针需要采用专门的射频探针来做，所以这也是射频测试座价格高于其它的测试座的原因。

关于测试座的部分，前面也讲过了设计思路。

现在主要说说RF连接器。

RF连接器即射频同轴连接器，主要起通讯射频作用。经过全球通讯行业的共同努力，使RF连接器形成了专业体系以及国际标准，同时也是连接器的必不可少的组成部分。

二、RF射频测试座的工作原理

RF射频测试座的常规pin脚还是采用对应的pogo pin探针，但是由于射频传输信号需要特别的媒介，所以相应的连接器部分也很特殊，我们比较常见的射频同轴连接器（RF COAXIAL CONNECTOR）就是其中之一，这个部件会被嵌入到测试座中，用于测试时候的射频导通。

对应相应测试座中射频连接器的设计选择，可以参考如下（不仅限于如下接口），同时在定制测试座的时候，也需要向供应商提出自己芯片的插损和回损要求（即S12/S21和S11），同时也需要提出自己的接触阻抗要求：

BNC是卡口式，多用于低于4GHz的射频连接，广泛用于仪器仪表及计算机互联。

TNC是螺纹连接，尺寸等方面类似BNC，工作频率可达11GHz，螺纹式适合振动环境。

SMA是螺纹连接，应用最广泛，阻抗有50和75欧姆两种，50欧姆时配软电缆使用频率低于12.4Ghz，配半刚性电缆最高到26.5GHz。

SMB体积小于SMA，为插入自锁结构，用于快速连接，常用于数字通讯，是L9的换代品，50欧姆可到4GHz，75欧姆到2GHz。

SMC为螺纹连接，其他类似SMB，有更宽的频率范围，常用于军事或高振动环境。

N型连接器为螺纹式，以空气为绝缘材料，造价低，频率可达11GHz，常用于测试仪器上，有50和75欧姆两种。

MCX和MMCX连接器体积小，用于密集型连接。

BMA用于频率达18GHz的低功率微波系统的盲插连接。

三、RF射频测试座的应用

当前随着5G以及WIFI6等高速通讯标准的升级，新的RF芯片广泛应用于手机，平板等移动设备，通讯基站等通讯平台。RF射频测试座的需求越来越多，也越来越高，当前主要的RF芯片会用到老化测试，功能测试，以及极端环境下的特种测试，所以也对RF射频测试座提出了更为高的测试需求。

四、RF射频测试座的制作方法：

产品设计需要依靠数据，包括芯片的尺寸（长宽厚度），芯片间距，芯片的形状，芯片测试中芯片需要运行的频率，以及对应的插损，回损等数据。有些RF芯片功率较大，有可能需要提供过流需求，众所周知，测试座pogo pin过流能力小于1A，所以说芯片的电源引脚过流能力也需要考虑进去，要不然会影响芯片的性能测试数据。

即 Socket + RF同轴连接器(还需要考虑到隔离)

五、RF射频测试座的保养：

射频测试座的话，需要定期保养，最好是每使用5000次用显微镜检查下接触探针或者RF射频连接器的情况，查看针顶部是否有污物以及针的磨损情况，保证测试座始终保持良好的测试状态。如果是有污物，建议使用超声波清洗设备，放入高纯度酒精进行超声波清洁，然后用气枪做最后的清洁，保证测试座在干燥的状态，保证产品的使用寿命以及测试性能。如果有轻微磨损，不影响测试（即测试数据没有很大的误差），可以在清洁后继续使用。如果说很严重的损伤，就需要更换探针以及RF连接器，才能继续使用了。