“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为IC服务
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通常客户在用ATE测试座做IC测试的时候，经常有反馈测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass，整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass，测试项整体跑就fail。有的是手测pass，量产一跑就fail。这种不稳定的问题，往往是最令人头疼的，但其实只要仔细分析，最终还是能够找到解决方案的。
归根结底，单独测pass，整个flow连着跑就不稳定，主要是由于前面的测试项的状态影响了当前测试项的状态。
量产不稳定
根据我个人的经验，量产不稳定主要发生在paramatric test的时候。比如DC的电压、电流值，或者ADC/DAC的SNR, INL, DNL，或者PLL的frequency等等。
当Hander或者Prober跑起来的时候，每次socket或者probe needle与DUT接触的状况不一样，导致paramatric测试fail。当清洗socket或者按时清针不能解决问题的时候，我们需要把程序的margin调得更大一些。 通常CP测试比FT更容易出现parameter test的不稳定。因为CP测试整个docking的结构比FT测试更加复杂。
还有一种，是由于不恰当的test flow导致的问题。
因为ATE测试和EVB上的测试其实是不同的。EVB上面的测试是功能测试，整颗芯片需要boot起来，所有的模块都会工作起来，而且所有的电源基本同时处于Vmax, Vmin或者Vtyp的状态。
而ATE测试，基本是模块化的，比如在测试ADC的时候，OTP部分的电源可以不上电，测试数字部分的scan时，ADC部分可以不上电等等。即使所有的电源都上电了，但是也可以某些模块的电源处于Vmax，某些处于Vtyp。所以当我们review整个test flow，并观察所有的电源pin的上电情况时，很有可能是每个测试项都不同的。
测试不稳定这种事，真的是很难一言以蔽之，只能具体问题具体分析。在此只是给大家提供了一些思路，有很多我没接触过的情况，没想到的问题，希望大家不吝赐教。
鸿怡电子18年来专注IC测试座、自动机台使用ATE测试座的研发，生产。探针均采用国外进口探针，高精定的CNC定位加工设备。20人的设计研发团队。致力于为客户提供专业的芯片测试老化解决方案！
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