鸿怡电子生产QFN12-0.4芯片老化座_下压qfn12测试座_NP506-012-038-SC-G,同时还生产其他IC芯片测试夹具治具。
产品简介
产品用途:编程座、测试座,对QFN12的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN12 引脚间距0.4mm
测试座:QFN12-0.4
特点:采用U型顶针,接触更稳定
规格尺寸
型号:QFN-12-0.4
引脚间距(mm):0.4
脚位:12
芯片尺寸:2*2