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QFN12-0.5翻盖老化座_qfn12测试座弹片烧写座_IC测试座

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浏览:- 发布日期:2021-09-24 14:44:04【
工厂介绍

鸿怡电子生产QFN12-0.5翻盖老化座_qfn12测试座弹片烧写座_IC测试座,同时还生产其他IC芯片测试夹具治具。

QFN12老化测试座

产品简介
产品用途:编程座、测试座,对QFN的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN12 引脚间距0.5mm
测试座:QFN12-0.5
特点:采用U型顶针,接触更稳定
规格尺寸
QFN12编程座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:

型号:QFN-12-0.5 引脚间距(mm):0.5 脚位:12 芯片尺寸:3*3 

QFN12-0.5间距老化烧录测试座


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