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QFN16-0.4CPO1GT翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写座

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浏览:- 发布日期:2021-09-26 10:19:56【
工厂介绍

鸿怡电子生产QFN16-0.4CPO1GT翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写座,同时还生产其他IC芯片测试夹具治具。

QFN16-0.4间距老化测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN16的IC芯片进行老化、烧写、测试

适用封装:QFN16 引脚间距0.4mm

测试座:QFN16-0.4

特点:采用U型顶针,接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-16-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:16

芯片尺寸:3*3

QFN16适配器老化烧写座

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