鸿怡电子推荐

• 定制PLCC52\LCC52翻盖探针测试座老化夹具治具测试socket

  

        测试座（夹具）特点：
  ①测试座设计翻盖式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定，...
  

• 定制SOP24-0.4（4.4×5mm)翻盖探针测试座

  

        
  

• QFP80下压弹片IC测试座

  

        产品用途：编程座、测试座，对QFP80的IC芯片进行烧写、测试 适用封装：QFP80引脚间距0.5...
  

• 定制DFN13pin-0.4mm-3x3mm芯片合金翻盖探针测试座

  

        DFN13pin芯片测试座规格参数：
  芯片封装形式：DFN
  芯片引脚：13pin
  芯片引脚...
  

• QFP100pin-0.5mm-14×14mm芯片下压弹片老化测试座

  

        QFP100pin芯片老化座规格参数：
  芯片封装类型：QFP
  芯片引脚：100pin
  芯片引...
  

相关鸿怡动态

• 7050（7.0×5.0mm）-4PIN晶振探针老化座
• 芯片测试中，我们需要了解之频率、速率的关键参数
• IC测试治具，帮您快速简单的进行IC测试
• CMOS芯片常见的LGA、PGA、BGA封装芯片鸿怡电子测试座socket！
• 什么是芯片测试夹具？芯片测试如何选择芯片测试夹具？鸿怡电子！
• QFN测试座是什么？QFN测试座该如何选型？-鸿怡电子HMILU
• 如何对CIS芯片测试与CIS芯片测试座介绍
• 鸿怡小编教您如何更直观的了解IC测试座？
• BTB弹片微针模组使用注意事项
• 老化测试座“气孔”的用途

最新资讯文章