QFN28-0.5间距(4×4) 芯片测试座_翻盖编程烧写测试座_翻盖探针老化座

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浏览：- 发布日期：2021-09-27 10:11:36【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN28-0.5间距(4×4) 芯片测试座_翻盖编程烧写测试座_翻盖探针老化座，同时还生产其他IC芯片测试夹具治具。

QFN28-0.5芯片测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN28的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN28

引脚间距0.5mm

测试座:QFN28-0.5

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-28-0.5

引脚间距(mm):0.5

脚位:28

QFN28芯片编程老化测试座

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