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QFN32老化座_4×4间距烧录座_IC SOCKET_QFN32-0.4翻盖测试座

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QFN32老化座_4×4间距烧录座_IC SOCKET_QFN32-0.4翻盖测试座

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浏览：- 发布日期：2021-09-09 15:52:31【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN32老化座_4×4间距烧录座_IC SOCKET_QFN32-0.4翻盖测试座，同时还生产其他IC测试夹具治具。

QFN32老化烧录测试座

产品简介

A、产品用途:编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行老化、测试

可用于作HOTL\HAST老化试验

B、适用封装:QFN32引脚间距0.4mm

C、测试座:QFN32-0.4

D、特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次

E、工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A max

F、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD

QFN32烧录测试座
规格尺寸

A、型号:QFN-32-0.4

B、引脚间距(mm):0.4

C、脚位:32

D、芯片尺寸:4*4mm 对应国外型号790-62032-101T

QFN32芯片老化烧录测试座

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