QFN52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座

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浏览：- 发布日期：2021-10-12 12:01:07【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧

录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等

QFN芯片老化座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试

适用封装:QFN52引脚间距0.4mm

测试座:QFN52-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

QFN52编程老化测试座

规格尺寸

型号:QFN52-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:52

适配芯片尺寸: 7*7mm

QFN52-0.4间距芯片老化测试座

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没有其他的测试要求，做成开尔文测试方式<...
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新定制：是产品描述：EMMC ATE测试座适用于自动机台测试
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