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新品QFN40-0.4芯片测试座_翻盖IC老化座_编程座_IC549-0404

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浏览:- 发布日期:2021-09-07 15:30:16【
工厂介绍

鸿怡电子生产新品QFN40-0.4芯片测试座_翻盖IC老化座_编程座_IC549-0404,同时还生产其他IC测试夹具治具。

QFN40翻盖IC老化测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN40的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN40引脚间距0.4mm

测试座:QFN40-0.4

特点:采用U型顶针,接触更稳定

QFN40芯片编程测试座

规格尺寸

型号:QFN-40-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:40

芯片尺寸:5*5

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