鸿怡电子生产定制的3225-8Pin-0.825mm塑胶翻盖晶振老化测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用3225系列晶振测试环境：老炼、测试、烧录，老化功能测试。
3225-8pin晶振老化测试座产品简介：
晶振测试频率：单pin过3Ghz@-1db
晶振测试电流：单pin小于500mA
老炼测试要求：需要兼容HTOL和HAST测试：125°*1000小时，双85°的HAST*1000小时
晶振老化座结构：翻盖式
晶振老炼夹具材料：PEI
“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务
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HMILU-3225-8Pin-0.825mm塑胶翻盖晶振老化测试座
产品简介
3225-8pin晶振老炼夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
晶振型号：3225
引脚：8pin
引脚间距：0.825mm
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
晶振型号：3225
引脚：8pin
引脚间距：0.825mm
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