深圳鸿怡电子生产定制的QFN40pin-0.4mm-5x5mm翻盖探针芯片老炼座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用于QFN40pin芯片测试环境：老练、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片性能测试，芯片HAST/HTOL测试
QFN40pin芯片老化测试夹具产品简介：
芯片HAST测试：需要多次试验
芯片老炼测试温度：+125°
芯片测试湿度：85%
芯片HAST测试时长：180小时/轮
芯片老炼座结构：翻盖式
芯片老化测试座夹具材料：PEI
“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务
首页 精密定制IC测试座
HMILU-QFN40pin-0.4mm-5x5mm翻盖探针芯片老炼座
产品简介
QFN40pin芯片老炼夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：5*5mm
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：5*5mm
产品详情
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