“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务

首页 精密定制IC测试座

LGA36pin-0.6mm-6×6mm塑胶翻盖式模块老化测试座socket

LGA36pin-0.6mm-6×6mm塑胶翻盖式模块老化测试座socketLGA36pin-0.6mm-6×6mm塑胶翻盖式模块老化测试座socketLGA36pin-0.6mm-6×6mm塑胶翻盖式模块老化测试座socketLGA36pin-0.6mm-6×6mm塑胶翻盖式模块老化测试座socket

产品简介

LGA36pin模块老化测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
模块封装形式:LGA
模块引脚:36pin
模块引脚间距:0.6mm
适配模块尺寸:6*6mm
接触介质:探针
老化座结构:翻盖式
老化座材料:PEI

产品详情

鸿怡电子研发、生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket
和Test-Socket,产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,

针对非标类及特殊要求的测试座socket/测试夹具治具,有开模定制和机加工定制二种,可按需一件起定制。

鸿怡电子生产定制的LGA36pin-0.6mm-6×6mm塑胶翻盖式模块老化测试座socket厂家

产品介绍:
产品名称:LGA36pin-0.6mm-6×6mm塑胶翻盖式模块老化测试座socket
使用用途:对LGA36pin模块进行模拟电路测试、性能测试用,支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试
性能参数:频率小于1G,电流小于500mA,常温
产品特点:
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用PEI材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。



模块老炼夹具

模块老化座

LGA老化座

IC老化座

我要下单

  • 姓名
  • 手机
  • 留言

网友热评