针对非标类及特殊要求的测试座socket/测试夹具治具，有开模定制和机加工定制二种，可按需一件起定制。

鸿怡电子生产定制的QFN23pin-0.5mm-4x3mm塑胶翻盖探针芯片老化测试座socket厂家

产品介绍：
产品名称:QFN23pin-0.5mm-4x3mm塑胶翻盖探针芯片老化测试座socket
使用用途：对QFN23pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用，支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试
性能参数：其中1、2pin脚输出持续电流需要满足10A，频率500MHZ，温度：-40°~+105°
产品特点：
测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用PEI材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试 更稳定，频率更高。
④测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。