BGA1517pin-1.0mm-40x40mm合金翻盖旋钮探针测试座

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BGA1517pin-1.0mm-40x40mm合金翻盖旋钮探针测试座

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BGA1517pin-1.0mm-40x40mm合金翻盖旋钮探针测试座

BGA151pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：1517pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：40*40mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的BGA1517pin-1.0mm-40x40mm合金翻盖旋钮双扣式探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用BGA1517pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

BGA1517pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：其中96个pin脚须10Ghz高频，其余pin脚：1Ghz

芯片测试电流：1A

芯片测试功耗：50W

芯片测试座需要做散热设计

芯片测试座结构：旋钮翻盖双扣式

BGA芯片测试座

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芯片引脚间距：0.8mm
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接触介质：探针
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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