DFN10pin-0.4mm-1.8x2.1mm塑胶翻盖探针芯片老化座

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DFN10pin-0.4mm-1.8x2.1mm塑胶翻盖探针芯片老化座

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DFN10pin-0.4mm-1.8x2.1mm塑胶翻盖探针芯片老化座

DFN10pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：1.8*2.1mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的DFN10pin-0.4mm-1.8x2.1mm塑胶翻盖探针芯片老化座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN10pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片HAST/HTOL高温高湿测试

DFN10pin芯片老炼夹具产品简介：

芯片老化测试温度：-45°~+125°，满足1000小时

芯片测试电流：500mA

芯片测试频率：300Mhz

芯片老炼座结构：翻盖式

芯片老化座材料：塑胶

IC老化测试座

IC老炼座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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