DFN4pin-0.85mm-6.9x1.4mm翻盖晶振老化座

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DFN4pin-0.85mm-6.9x1.4mm翻盖晶振老化座

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DFN4pin-0.85mm-6.9x1.4mm翻盖晶振老化座

DFN4pin晶振老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：DFN
引脚数：4pin
引脚间距：0.85mm
适配尺寸：6.9*1.4mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的DFN4pin-0.85mm-6.9x1.4mm翻盖晶振老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN封装晶振测试环境：老化、测试、烧录

DFN封装晶振老化测试座产品简介：

晶振测试电流：合计SW是10A，Vin是3A

晶振测试温度：-45°~+155°

没有其他测试要求

晶振老化座结构：翻盖式

晶振老化座材料：塑胶

IC老炼座

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晶振老化测试socket

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晶振老化测试座

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适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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