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DFN8(2*3)-0.5翻盖探针IC测试座

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DFN8(2*3)-0.5翻盖探针IC测试座

产品用途:编程座、测试座，对DFN8的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:DFN8 引脚间距0.5mm
测试座:DFN8(2*3)-0.5
特点:采用U型顶针，接触更稳定

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DFN8(2*3)-0.5翻盖探针测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对DFN8的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:DFN8 引脚间距0.5mm

测试座:DFN8(2*3)-0.5

特点:采用U型顶针，接触更稳定

晶振测试仪器专用座 USON8芯片烧录

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