鸿怡电子生产定制的DFN8pin-0.5mm-1.98x2.98mm塑胶翻盖探针芯片老化座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用DFN8pin芯片测试环境:芯片模拟电路测试、烧录、老化
DFN8pin芯片老炼夹具产品简介:
芯片测试电流:200mA,持续电流时间:20s
芯片老化测试温度:-55°~+125°,单次老化时长1000小时
DFN芯片老化测试座结构:翻盖式
芯片老炼夹具材料:PEI