DFN8pin-0.5mm-1.98x2.98mm塑胶翻盖探针芯片老化座

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DFN8pin-0.5mm-1.98x2.98mm塑胶翻盖探针芯片老化座

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DFN8pin-0.5mm-1.98x2.98mm塑胶翻盖探针芯片老化座

DFN8芯片老化测试座规格参数：
生产厂家品牌：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：1.98*2.98mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的DFN8pin-0.5mm-1.98x2.98mm塑胶翻盖探针芯片老化座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN8pin芯片测试环境：芯片模拟电路测试、烧录、老化

DFN8pin芯片老炼夹具产品简介：

芯片测试电流：200mA，持续电流时间：20s

芯片老化测试温度：-55°~+125°，单次老化时长1000小时

DFN芯片老化测试座结构：翻盖式

芯片老炼夹具材料：PEI

IC老炼座

IC老化座

DFN芯片老化测试夹具

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芯片老化座

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芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片引脚：30pin
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测试座结构：翻盖式
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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