CQFN21pin-0.6mm-7.5x7.5mm翻盖探针老化测试座

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定制CQFN21pin-0.6mm-7.5x7.5mm翻盖探针老化测试座

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定制CQFN21pin-0.6mm-7.5x7.5mm翻盖探针老化测试座

CQFN21pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：CQFN
芯片引脚：21pin
芯片引脚间距：0.6mm
适配芯片尺寸：7.5*7.5mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的CQFN21pin-0.6mm-7.5x7.5mm翻盖探针老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用CQFN芯片测试环境：老化、测试、烧录

CQFN21pin芯片老化座产品简介：

芯片老化测试温度：-55°~+125°

芯片老化测试时长：满足单次1000小时（多次使用）

芯片测试电流：1A

芯片测试工号：6W

芯片测试电压：30V

老化座结构：翻盖式

老化座材料：塑胶

IC老炼座

芯片老化座

CQFN芯片老化测试夹具

CQFN芯片老化socket

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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