DFN14pin-0.4mm-2X2mm合金翻盖探针测试座

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定制DFN14pin-0.4mm-2X2mm合金翻盖探针测试座

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定制DFN14pin-0.4mm-2X2mm合金翻盖探针测试座

DFN14pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：2*2mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的DFN14pin-0.4mm-2X2mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN14pin芯片测试环境：老化、测试、烧录、开尔文测试

DFN14pin芯片测试座产品简介：

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试电流：1A

芯片测试频率：500Mhz

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

IC测试座

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芯片引脚间距：0.8mm
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芯片引脚：30pin
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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