DFN34pin-0.95mm-18x18mm合金翻盖探针测试座

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定制DFN34pin-0.95mm-18x18mm合金翻盖探针测试座

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定制DFN34pin-0.95mm-18x18mm合金翻盖探针测试座

DFN34pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：34pin
芯片引脚间距：0.95mm
适配芯片尺寸：18*18mm
芯片厚度：0.5mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的DFN34pin-0.95mm-18x18mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN34pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

DFN34pin芯片测试座产品简介：

芯片测试电流：4A

芯片测试频率：1.5Ghz

芯片测试温度：85°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

IC测试座

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芯片封装形式：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片引脚：30pin
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测试座结构：翻盖式
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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