定制DFN6pin-0.4mm-1.1x0.7mm翻盖塑胶探针老化座

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定制DFN6pin-0.4mm-1.1x0.7mm翻盖塑胶探针老化座

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定制DFN6pin-0.4mm-1.1x0.7mm翻盖塑胶探针老化座

DFN6pin芯片探针老化座规格参数
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：1.1×0.7mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的DFN6pin-0.4mm-1.1x0.7mm翻盖塑胶探针老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

DFN芯片测试座、DFN芯片老化座、DFN芯片烧录座

DFN6pin芯片老化测试条件要求：

芯片老化测试温度：125°，持续1000小时

芯片测试电流：450mA

芯片测试频率：4G

芯片测试电压：3.3V

老化座结构：翻盖

老化座材料：塑胶

IC老化测试座

DFN芯片探针老化座

DFN老化座

DFN6pin老化座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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